原创 美研发新技术，可快速辨识石墨烯薄片缺陷

纯石墨烯(graphene)薄片制成的IC能以比硅芯片更低的温度、更高的速度运作，但遗憾的是，无缺陷的石墨烯薄片非常难产生，甚至其缺陷也很难表征出来。为此美国康乃尔大学(Cornell University)研究人员宣布发明了一种影像技术，能通过将石墨烯薄片色彩化，来简化其量测方法，快速地辨识出石墨烯薄片的特性。

康乃尔大学发明的新技术，能通过将完美的石墨烯片边缘着色，来区分出石墨烯薄片的哪些区域是真正的单层膜(monolayers)；利用绕射成像电子显微镜(diffraction imaging electron microscopy)，该技术能量测出电子从石墨烯薄片表面反弹的角度，然后用不一样的颜色来标示，所产生的色彩化薄片影像，就能很快地根据其定位辨识出晶界(grain boundaries)。

采用该技术所产生的影像，看起来就像是一幅拼布作品；较大的固定区域代表完美的单分子膜小薄片，被着色的边缘则代表那些小薄片之间的不完美接口。这个研发计划是由美国国家科学基金会(NSF)所赞助。

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