原创 电子电工测试技术的开展需要解决哪些问题-耐压测试仪

现在电器、电子设备已经被广泛的应用，然而人们更喜欢的就是以低功耗、高效率、电路简洁等清楚优点而备受喜欢。这样不但可以方便还可以环保，对于生产也有很多的用处，电子电工测试技术的开展需要解决以前古老的方式。才能够有更好的发展。恒鑫隆科技是专业生产变频电源、耐压测试仪、绝缘耐压测试仪等产品的生产人们都不喜欢复杂的东西，都比较喜欢简单易懂，下面来看看怎么做才能让电子电工测试技术的开展越来越好。

对体积更小、功用更强的芯片的需求正推进IC产业的开展，同时也推进着IC设计和测试的开展。关于系统芯片(SOC)的测试，其本钱已简直占芯片本钱的一半。依据英特尔公司副总裁提出的测试摩尔定律，未来几年，每一晶体管的硅投资本钱将低于其测试本钱。因此未来IC测试设备制造商面临的最大应战是如何降低测试本钱。

　　
　　那么到底怎么做可以保证较高的测试掩盖率，又能省时省费用。恒鑫隆科技有限公司认为必须要解决以下问题：
　　

1.提高测试模拟IC的速度
　　
　　另一个要处置的测试效果是如何开展可测性设计、内置自测试和其它数字测试技术，以满足器件的模拟测试。从上市的时间的观念来看，这能够是关键效果。IC测试设备制造商能处置以Gb/s任务的数字电路和高速串行通讯端口的测试效果。但测试混合信号器件中模拟局部的难度就很大。一些器件能够是数字器件，但具有模拟特性。如局域网接口电路。这种电路的测试很复杂、费时、难以完成。今后，IC测试设备制造商的另一个义务就是要提高这类器件的测试速度。

2.采用开放式结构，顺应通讯测试的需求
　　
　　通讯测试仪器制造商正面临新技术、新规范和更短的产品寿命周期的应战。许多通讯设备制造商将向市场推出采用无线因特网等新技术的产品。他们一边推出新产品，一边设计功用更高的新产品。因此，它们需求测试仪器厂商提供易于晋级的测试仪器，以顺应采用最新技术的通讯设备的测试需求。所以，这类通讯仪器将普遍采用开放式结构设计、模块化和灵敏的硬件与软件结构。

3.处置异步测试效果，需求制定IP核测试规范
　　
　　目前，设计人员设计系统级IC时，已普遍采用将不同的IP核集成在一同的方式。这样可大大延长芯片的上市时间。将不同厂商的不同IP核集成到一个器件中能够遇到多个时钟效果。假设设计师采用PCI总线和Rambus总线，不同的时钟使并行测试这些IP核极为复杂。假设这些IP核的时钟呈整数倍关系，可选的测试方法有很多，但是遇到它们的时钟不呈整数倍时，则在同一测试设备中，需求多个时域。也就是被测器件的各引脚的任务形状处于异步形状，即一些引脚以６６MHz／s任务，另一些引脚以８００Mb/s任务。因此，半导体测试的下一步任务就是要处置这类异步测试效果。如今，各IP核供货商采用的不是同一种可测性设计谋略，对被测IP核的接入方式也各不相反。因此，需求制定IP核接入规范和可测性设计规范。

4.开发顺应高速网测试的网络测试仪
　　
　随着网络速率的提高，测试仪器捕捉网络数据越来越困难。现有的测试仪器在测试高速率的网络时已不是很有效，甚至采用大容量的缓冲器，也不能取得真实的数据。这就迫切需求仪器消费厂商研制具有实时滤波才干的测试仪器。这样可以把与缺点有关的数据存储上去，并停止实时剖析。这种具有实时滤波和外部专家系统的仪器不但能对数据停止剖析，还能对网络的缺点停止准确定位。

科技的发展，使我们的国家越来越强大，电子电工测试技术也在不断的提高。只要我们一起努力我相信我们的国家会越来越繁荣昌盛，也让我们的生活水平不断的提高。我们要与时俱进不能够落后于别人，我们可以做到！

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