原创基于PC机USB接口的I-V源/测试仪器 AT-PMU

 2009-9-27 18:27  1951 2 2 分类: 测试测量

AT-PMU是高性能和高并行I-V源/测试仪器，可用作台式I-V特性工具或作为复合的半导体器件表征。
AT-PMU是具有高并行体系结构以及集成开关矩阵和高采样率、高分辨率的测试测量装置，这些特点使得它成为执行并行测试的无与伦比的测试解决方案。

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快速简便用于实验室

AT-PMU为实验室或台式使用提供了高性能完整的I-V 测试解决方案，并提供了无与伦比的易用性，高精度和高速率。
基于高并行性（2或8个I-V测试单元）以及集成了开关矩阵，我们无需重新布线就可以迅速地评估16个I-V特性。
高采样率 (65MSamples/s)加上可编程硬件平均使得用户可以在测量速度和测量精度之间取得一致。

用于复杂的测试系统

AT-PMU特性与外部仪器严格的集成，其可作为复杂半导体器件特性的完整测试系统。

能维持高测量吞吐量，这是由于高采样率 (65 MSamples/s)以及两个可能的数据存储和传输策略：“很忙”和“像示波器”。
“很忙”策略：一个2kSample双端口存储器用于储存新的测量突发，同时已经储存的测量数据被传输至大容量存储设备。通过高速USB 2.0连接到PC电脑，可保证连续的数据采集过程。
“像示波器”策略：一个极大的1MSample单端口存储器能连续储存大量测试数据。当采集过程停止时，立即读取存储数据。
对于系统级应用，.Net C++库和LabVIEW VIs允许方便但高效的仪器控制及严格与外部仪器集成，去执行完整的测试计划。

同步和并行测试性能

由于使用了AT-XSS总线，8个AT-PMU仪器可连接成主从配置结构，能听提供高达128个I/O和64个并行测试单元。
通过AT-XSS 同步时钟线可确保严格定时同步。

I-V测试单元

每个仪器带有2个并行的电压源和2个并行的电流源，它们能被共享到所有通道。每个I-V测试单元能提供：

      ·    12位或14位精度
·      65 MSamples/s 最大采样率
·      2 kSamples双端口存储器用于“很忙”测试
·     1 MSamples单端口存储器用于“像示波器”测试
·      可编程硬件平均
·      可编程采样频率
·      电压或电流测试模式
·      2个电流满量程：±100μA和±500μA
·      2个电压满量程：±1.2V和±12V
·      单次触发或附加触发模式
·       可编程触发测试长度