原创 从安捷伦数字测量论坛看高速数字测试的趋势

2009-7-14 22:30 2487 7 7 分类: 测试测量

今天下午,安捷伦数字测量论坛2009年北京站的活动在丽亭华苑酒店举办,100多位来自各行各业的用户参加了这次会议。


会议共设5个专题:http://www.tm.agilent.com.cn/tmo/events/MC19917/


专题1:设计验证和调试中用到的示波器高级触发技术


专题2:信号完整性测试最新技术: 去嵌入和均衡在高速总线测试中的应用


专题3:示波器探接技术---7项最新提示


专题4:DDR存储设计测试挑战及最先进的示波器和逻辑分析方案


专题5:使用N6705A实现对数字电路多路供电和时序上电的验证


从内容来看,目前的高速数字测量更加强调信号的探测及分析技术。其中第2/3/4个题目都与如何更真实地进行测量以及尽量减小探测件所造成的误差有关,第1个专题强调的是如何从复杂的信号中捕捉到感兴趣的部分,第4个专题则直接举例说明了高速内存总线分析软件对于内存测试的帮助。


 同时我们也可以看到,随着数字信号速率越来越高,对于数字信号的分析方法会更多地借助于频域的手段,如网络分析仪、频谱仪、ADS仿真软件、去嵌入等这些传统用在射频微波领域的手段也更多地用于数字信号的分析。

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