原创 【免费报名】助力车规IC零缺陷的实现 —— 芯片测试、数据和流程的最佳实践

2023-3-22 17:38 346 4 4 分类: 汽车电子
主题:助力车规IC零缺陷的实现 —— 芯片测试、数据和流程的最佳实践
研讨会时间:4/12日 10:00-11:30
研讨会介绍:

对车规级芯片而言,通过AEC-Q100、 ISO 26262等标准的认证,是芯片上车的关键一步;而能否实现大规模量产并且无限逼近0 ppm(每百万产品0缺陷)的目标,则是关键之后的关键。在从研发、验证到量产的芯片全生命周期开发过程中,验证环节是复杂高质量芯片所需经过的重要一环,尤其硅后(Post Silicon)测试验证的效率问题是国内众多设计公司所面临的痛点。

本场研讨会将与您分享与探讨:硅后验证的重要主题有哪些?国际大厂的专业化实践是怎样的?如何通过芯片测试、数据以及流程的规划与管理助力实现车规IC的零缺陷,加速产品上市等相关议题。

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文章评论4条评论)

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carriep 2023-3-30 16:37

自做自受: 零缺陷的实现的确不容易,努力!加油!
欢迎报名!

自做自受 2023-3-30 08:16

零缺陷的实现的确不容易,努力!加油!

carriep 2023-3-29 15:20

kumiko1: 支持!
感谢支持

kumiko1 2023-3-29 11:21

支持!
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