原创 【报名有奖】Tessent SSN: 用基于总线的扫描数据分配架构大幅提升扫描测试能力

会议时间：2023年06月20日 14:00 - 15:00

会议简介：随着技术节点不断缩小，设计规模不断扩大，系统集成度越来越高，芯片设计越来越难以使用传统的扫描访问方法进行测试。Tessent SSN 技术提供了一个基于总线的扫描数据分配架构，实现高速数据分配，有效处理内核之间的不平衡，并支持以不变的成本测试任意数量的相同内核。SSN 结构大大促进了测试时间的缩短，及测试设计的优化。在这场研讨会中，我们会通过技术实现解析和用户案例分享，全方位介绍 SSN 如何帮助用户降低设计工作量，节省测试成本，实现更优的功耗、性能和面积。