原创
PCB设计第030篇 可测试性 DFT概念 测试方法 测试点
[初次发表 23-12-14 最后编辑:24-02-16]
为量产而设计的PCB跟只在毕业设计或者功能验证阶段做的PCB是很不一样的。量产PCB的一个重要特征是对 PCB 测试的支持水平,即可测试性(Design for Test, DFT)。以量产为目的的PCB,需要针对 PCB 和 PCBA 的半自动或全自动测试做专门的设计。可测试程度高,除了可以早期发现异常零件的好处,而且在分析整机产品失效时可以起到聚焦问题、切割责任的作用。
可测试性的规划开展得越早越好。PCB可测试性评审至少需要包括电子工程师、PCB设计师、PCB制造工程师和测试工装工程师,各方合作,选择比较经济、容易实现的测试方法,确定在什么阶段、什么时候开展哪些测试,确定与测试工装(Tooling)对接的孔口规格,以及拼板情况下的测试方案。PCBA可测试性的设计更是需要合作,它要考虑最低可接受良率、测试设备成本等。
首先是裸板测试,也就是PCB板单体的测试。这一步由PCB制造商负责,要确定PCB上的导电图形的连通性,做到“无开路、无短路”,换句话说就是该通的地方是通的,该断的地方是断的。这一步最好是基于网络表进行,并且推荐使用符合 IPC-D-356标准的网络表。裸板测试的设备被称为“针床 / BON - Bed of Nails”,其外观是一组彼此平行且固定的针,针的内部有弹簧可以伸缩,针的尾部用导线接到多路测试仪上,测试时,针尖会抵在PCB覆铜的裸露位置,测试仪输出电压信号,有时还可以是特定频率的电压信号。除了针床,还可以使用“飞针 / Flying Probe”测试机。为了能准确地描述缺陷的位置,建议用格点和PCB网络编号来区别和定位。我曾共事的一位前辈,给自己PCB上的每个电气网络用数字命名,不用默认的原理图网络标号,当时我并不理解这样做的原因,现在看来很可能是为了测试。如果板厂以拼板方式出货,那么需要在组装Panel上测试,并标记出那些测试异常的位置。
针床
飞针测试
其次是PCBA组件测试。这一步是在元器件已经安装好之后进行,目的是检查元器件的功能、连接状态是不是正常,有没有短路、断路的情况。由于北侧对象的复杂度增加,所以测试工序的复杂度也提高了。这一步常用到的测试设备有3类:
1. 光学检验 / AOI - Automatic Optical Inspection (非接触式)。AOI 主要用于确认电子元器件的摆放质量,基于基准点,AOI设备可以确认PCB上的元器件是不是预期的物料,放置的时候位置和极性有没有错误。有一种 AOI 的工作原理是检测平面反射光的亮度(光通量),根据反射图像和标准图像的比较来发现可疑点,可以发现是否焊接正确,有没有漏焊和桥连等缺陷。为此,PCB上需要设计反光焊盘,在焊接前保持平整(反射强),印刷锡膏后仍然平整但反射能力下降,焊接后,由于形成焊锡润湿角度,所以反射会显著下降。这样以来AOI设备可以判定出有没有漏刷锡膏,有没有形成焊点。还有一些AOI是基于图像模式识别原理工作的。
2. 在线测试 / ICT - In-circuit Testing(接触式)。ICT 用来确认零件是否工作,零件之间彼此连接是否正常。ICT 的工作原理是给电路上电并给出输入,然后利用BON的探针读取输出,判断被测电路是否正常。复杂的ICT甚至还有外部的电路逻辑。ICT一般在固定夹具上进行,用于ICT的测试点最好是位于通用网格系统上并且有合适的间距,这样做有利于重用ICT测试夹具,简化探针布局和调整的工作。双面PCB的ICT测试需要设计双面夹持装置,但出于成本和维护难度的考虑,不推荐使用双面ICT夹具。
ICT
3. X-ray / AXI。AXI 用于检查焊点质量,尤其是那些焊盘不外露的元器件的焊接质量,可以发现焊料过量、焊料不足、冷焊、气泡等缺陷,特别适合LGA封装,BGA封装的检查。
其它手段还有激光分析,可用于探测焊点开路、短路、气孔。还有边界扫描(JTAG),用于大规模逻辑电路的功能检查。
第三步是功能性测试,也叫FCT。这一步总是针对单独的PCBA进行的,此时PCBA已经从拼板上被分离,功能性测试可以验证电路功能模块的运作是否正常,电压、电流、频率、显示量度等参数是否符合预期。FCT常常需要借助PCBA预留的测试接口进行。由于PCBA密度越来越高,FCT正在快速取代ICT称为量产阶段PCBA的测试手段。
FCT
介绍完PCB和PCBA的测试手段,接下来说说针对ICT,PCB设计时需要怎样的准备。
先要确定关键的电路网络,然后在电路上扇出测试点的连接盘图案。元器件的测试点,要离开元器件本体合适的距离放置,这样可以确保元器件本体和ICT探针之间没有位置干涉。不要以PCB尺寸小为理由,用元器件的引脚作为探针的接触点。
双面测试的PCB,测试点推荐使用直径1.0mm的圆形连接盘,或者边长0.9mm的方形连接盘。单面测试的PCB,测试点推荐使用直径0.8mm的圆形连接盘。根据 IPC-7351,1.0mm连接盘尺寸可以保证漏检率不高于 0.3% 。至于探针,推荐2.5mm规格,此外依次是1.75mm和1.25mm。
测试点周围要留出空间不放置其它元器件,环宽一般 0.6mm。如果测试点旁边有高大的器件,那么高大器件一侧的距离按 5mm设计。
作者: 电子知识打边炉, 来源:面包板社区
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