[初次发表 24-03-09 最后编辑:24-08-21]
降额/Derating 是“留余地”的意思。电子元器件的降额是指以电子元器件规格书声称的额定值为上限,降低需求去用。换句话说,把电子元器件的主要性能参数的额定值乘以一个小于1的系数,按调整后的性能参数使用。
降额的实践显示,元器件寿命延长,失效率下降,同时抵抗过应力的能力提高了。
降额的理论依据是概率统计。我看过不同时期不同国家的文献,大都基于一个叫做“强度-应力干涉论/Load-Strength Interference Theory”的东西来说明。这个说法很容易理解:把一大批电子元器件的某一项参数用分布曲线/分布密度函数来表示,称为强度/Strength;把一大批产品(对电子元器件而言就是应用电路)对器件这项参数的需求用另一个分布曲线来表示,称为应力/Load。显然,当强度低于应力时,元器件就更容易失效。把两条曲线画在一起,就是下图的样子。
上面这张图显示,应力分布和强度分布各自有高的集中度,而又彼此分离、没有交集,这意味着良好的可靠性水平(在所关注的参数上)。
上图中,应力分布很集中而强度分布较分散,另外应力和强度有交集,这意味着存在可靠性风险,但总体上失效率低,属于可接受的可靠性水平(在所关注的参数上)。
这张图预示可靠性水平较低,不可接受。图中应力分布较分散而强度分布很集中,而且应力和强度有交集,这意味着在应力较大的情况下失效率会猛增。如果不能改变选型方案,那么设计时需要多搞样机,增加极限测试,测试费用会增加。另外,强度分布集中的元器件质量一致性必然也好,是“上等原料”,但是在应力分布分散的情况下,上等原料也得不到优质的品质,“一流的原料,三流的产品”。
利用统计分布的数学方法,可以试着定量化地描述上文所说的“集中”、“分离”。为此定义2个参数:
安全裕度/Safty Margin 应力粗糙度/Loading Roughness
安全裕度表示了应力递增方向上,概率分布函数彼此分离的程度。
应力粗糙度表示了应力分布函数的集中程度好坏。理想的应力分布,粗糙度是0,画出来是一条垂直于强度轴的直线。
降额是以产品的主要工况、典型工况和额定条件为基础的,并不是说在产品所有的测试条件、未预想到的使用(过应力)情况下,都要去满足降额要求。其实,降额本来就是健壮性(Robustness)和容差设计的物质基础,就是为了让产品能够承受一定的过应力的。
降额并不是僵硬的教条,它既有来自器件物理特性的例外,也有电子设计师主动调整的空间。
降额不但没好处反而还有害的例子有:
1. 小功率继电器、小功率开关的金属触点,额定电流不宜降额。金属触点表面因为空气中氧气、二氧化硫等物质的作用,会产生金属氧化物、金属硫化物,绝缘电阻较大。这些物质需要利用通流时的焦耳热来烧掉,保持触点性能。如果通流不足,就不足以去掉这些废物。
2. 聚苯乙烯、涤纶、云母和纸电容器,额定电压不宜降额。这类介质在低电压下反而会更容易失效。
关于塑封集成电路,以前认为其功率降额不宜过大。塑封集成电路并不是气密性的器件,需要适当发热来驱散封装材料吸附的湿气。如果发热量太低,那么器件就可能受潮。但是,随着集成电路行业的技术进步,尤其是塑封料(Compound)行业高度集中于日系企业(住友,日立化学),塑封集成电路的湿度敏感性已经降到非常低的水平,大部分都可以做到MSL 1级,可以长期暴露在环境中,不在需要防潮处理。
降额一般会区别产品分级定义,分级的考虑有可维修性、允许的故障间隔时间等。
和按标准分级降额相比,进一步减少降额甚至不降额,挑战更大。首先它需要数据支撑和敢于承担责任的团队,这些离不开大量的实验、数据分析的工作量以及管理者的理性。我工作的企业一直在开发内部的降额控制标准,实际上绝大多数企业都在这样做,一边参考那些适用于军工、宇航的降额标准,一边根据自家电子产品的质量目标做让步和裁剪,让自己的产品质量处在市场实际可接受的最低要求附近。这方面我最服气的是日本汽车行业,就是敢于用更薄的钢板,减轻车辆的重量,换取更低的能耗,既降低了售价,又降低了绝大多数车主的使用费用。当然,“常在河边走,哪有不湿鞋”,在质量底线上的反复试探,试错成本也是可观的,有时会让产品坠入万劫不复的境地。因此,不提倡底线思维,理想的方式是无限趋近底线而不交越。设计者本身也是消费者,己所不欲,勿施于人。
降额违反“物尽其用”的经济规律和自然法则,不过我认为这只是字面意义上的。如果把价值考量的视野从销售利润延申到产品保修期内的利润,在可靠性/Reliability、健壮性/Robustness、美誉度/Reputation 的话题下,那么降额设计的价值就出来了。井蛙不可语海,夏虫不可语冰,在唯成本论大行其道的阶段,深入理解降额,未来肯定用得到。
所有插图:ReliaSoft Co.
Ref:
Derating for Electronic Components.Reliability. Hotwire Issue 92 2008. webull.com.
庄奕琪. 电子设计可靠性工程. 西安电子科技大学出版社,2014
Fred Schenkelberg.The Basics of Derating Electronic Components. FMS Reliability. 2016
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