MOSFET的技术标准大致包含 2 类——电气特性，特性测试。
IEC60747.8 是定义MOSFET电气特性的标准，当前最新版本是 IEC60747.8:2010+AMD1:2021 CSV。按照IEC的分类法，MOSFET 和双极型晶体管（三极管）等共同属于分立器件这个分支，IEC60747标准是针对分立器件的系列标准，第8分册就给了 MOSFET。
我国较早就等同采纳了 IEC60747.8 这个标准，对应国标 GB 4586-1994。从年份可以看出，国标没有紧跟 IEC 的迭代。另外就是国家军用标准 GJB 33B-2021。
特性测试方面，最早应该是美军标 MIL-STD-750 定义了测试电路和测试方法，后来这些方法被 IEC60747.8 部分采纳，占了标准一半的篇幅。
对功率型MOSFET这个重要分支，JEDEC组织发布了 JESD24 系列标准。
/1 关断损耗
/2 栅极电荷
/3 热阻，垂直结构，基于漏源电压差
/4 （用于双极晶体管）
/5 UIS（Unclamped Inductive Switching，无箝位感性负载开关）雪崩能力，单脉冲
/6 （热阻，用于绝缘栅双极晶体管）
/7 （反向恢复过程的电压变化率，用于双极晶体管）
/8 感性负载开关雪崩能力，连续脉冲
/9 短路耐久性
/10 反向恢复时间
/11 等效栅极电阻
/12 （热阻，基于集-射电压差，用于绝缘栅双极晶体管）
作者： 电子知识打边炉， 来源：面包板社区
链接： https://mbb.eet-china.com/blog/uid-me-4061550.html
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