[初次发表 24-05-21 最后编辑:24-05-27]
IEC 60747 标准是半导体器件的常用技术标准,规范了电气特性参数和测量方法。该标准包含以下分册,涉及分立器件、集成电路、传感器组件等,部分被等同采纳为GB/T标准。
/-1 通则 (GB/T 17573-1998)
/-2 二极管 (GB/T 4023-2015)
整流二极管
雪崩效应整流二极管
快恢复整流二极管
肖特基结二极管
/-3 二极管 (GB/T 6571-1995)
信号二极管:工作频率在 数百MHz 以下的
开关二极管:非功率二极管
电压调整二极管,电压基准二极管
电流调整二极管
/-4 二极管 微波二极管,微波三极管
/-5 光电子器件
/-4 半导体激光器 (GB/T 15651.4-2017)
/-5 光电耦合器(光耦) (GB/T 15651.5-2024)
/-6 发光二极管(LED) (GB/T 15651.6-2023)
/-7 光电二极管,光电晶体管 (GB/T 15651.7-2024)
/-8 发光二极管(LED)测量方法:光电效率
/-9 发光二极管(LED)测量方法:内部量子化效率(电致发光)
/-10 发光二极管(LED)测量方法:内部量子化效率(室温)
/-11 发光二极管(LED)测量方法:辐射和非辐射电流
/-6 闸流晶体管 (GB/T 15291-2015)
/-7 双极型晶体管(BJT) (GB/T 4587-2023)
/-8 场效应晶体管(FET) (GB/T 4586-1994)
/-9 绝缘栅双极晶体管(IGBT) (GB/T 29332-2012)
/-14 半导体传感器
/-1 通则 (GB/T 20521-2006)
/-2 霍尔效应元件
/-3 压力传感器 (GB/T 20522-2006)
/-4 加速度传感器
/-5 PN结温度传感器
/-10 可穿戴式葡萄糖传感器:性能评价方法
/-11 声表面波(SAW)紫外光、亮度、温度传感器 测试方法
/-15 隔离式功率器件
/-16 微波集成电路
/-1 放大器 (GB/T 20870.1-2007)
/-2 预分频器 (GB/T 20870.2-2023)
/-5 振荡器 (GB/T 20870.5-2023)
/-10 单片微波集成电路技术认可程序 (GB/T 20870.10-2023)
/-17 磁隔离器 电容隔离器,用于基本绝缘和加强绝缘
/-18 半导体生物传感器
/-1 CMOS光传感器阵列,无镜片:测试方法和校准数据的分析方法
/-2 CMOS光传感器阵列,无镜片,组件:评价方法
/-3 CMOS光传感器阵列,无镜片,组件,含流体:流体运动特性
/-4 CMOS光传感器阵列,无镜片:噪声特性的测试方法
/-5 CMOS光传感器阵列,无镜片,组件:光响应度特性
/-19 智能传感器
/-1 控制原理
/-2 低功耗条件下传感器特性和供电特性的表示方法
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