原创 如何设计新一代自动化测试系统

测试管理人员和工程师们为了保证交付到客户手中的产品质量和可靠性，在各种应用领域(从设计验证，经终端产品测试，到设备维修诊断)都采用自动化测试系统。他们使用自动测试系统执行简单的“通过”或“失败”测试，或者通过它执行一整套的产品特性测试。由于设计周期后期产品瑕疵检测的成本呈上升趋势，自动化测试系统迅速地成为产品开发流程中一个重要的部分。这篇“设计下一代自动化测试”的文章描述了一些迫使工程团队减少测试成本和时间的挑战。这篇文章还深刻地洞察了测试管理人员和工程师们如何通过建立模块化软件定义型测试系统来克服这些挑战。这种测试系统在减少总体成本的同时，显著地增加了测试系统的吞吐量和灵活性。

如今的测试工程师们面临着一系列新的压力。他们所面临的产品开发环境情况如下：
1. 产品设计比前几代更为复杂；
2. 为了保持竞争力并满足客户要求，开发周期要求越来越短；
3. 产品测试成本越来越高，而预算越来越少。

不断提高的设计复杂性

如今，测试测量的最明显趋势是器件复杂性不断增加。例如，消费电子、通信和半导体工业持续要求将数字图象/视频、高保真音频、无线通信和因特网互联性集成到一个单独产品中。甚至在汽车中都集成了复杂的汽车娱乐和信息系统、安全和早期预警系统，以及车身和发动机上的控制电子装备。测试系统的设计不仅需要足够灵活地支持对不同产品模型进行广泛的测试，还需要能够进行升级以提供新测试功能所需的更多测试点。

更短的产品开发周期

由于希望不断提高新产品和技术，拥有市场第一个占有率的竞争天性，设计和测试工程团队只能不断的缩短产品开发周期。为此，工程团队必须设计出新的测试策略来减少测试时间，并提高从设计到生产的测试效率。

日益增加的测试成本和日益减少的测试预算

增加设备功能通常会导致测试流程更昂贵、费时。然而，构建每个功能的成本却是降低的，这就迫使工程部门要减少成本和预算，如图1所示。工程师们必须改进测试策略，通过增加测试系统的吞吐量、减少维护和升级成本和必需的资本投资来降低总成本。

图1：来自SIA的数据表明：随着时间推移,硅(或者器件功能)的成本在降低，但测试成本却在持续增加。

日益增加的测试成本和日益减少的测试预算

为了应对器件复杂性增加、开发周期缩短和预算减少的挑战，测试管理人员和工程师们被迫放弃传统的测试设计策略，即基于传统箱式仪器或“大铁块”式的私有ATE系统。这些独立的仪器缺少软件处理所必需的灵活性，而且用户接口是由厂商定义的，只能由厂商通过固件更新。这样，仪器固件中没有定义的测试以及新标准的测试就难以执行；或者当要求变化时，也难以对系统进行修改。由于这些器件最初就是作为独立仪器而设计，他们缺少必要的集成能力，譬如数据流和同步功能。私有的ATE系统(例如高度集成产品芯片测试仪)能提供所需性能，但成本相当昂贵，可能会使工程团队被废弃，过早地进行系统再设计。

针对这些情况，测试管理人员和工程师们正在实现模块化软件定义型测试结构。这种结构基于广泛采纳的工业标准，可以提供：
1. 更高的测试系统灵活性：可扩展至多种应用、业务部门，以及各个产品阶段。
2. 高性能的结构：可以显著提高测试系统吞吐量，并提供与不同仪器厂商之间的密切联系和集成，包括精密直流信号、高速模拟和数字信号和射频信号的生成与分析。
3. 更低的测试系统投资：减少最初资本投资和维护成本，同时增加多种测试要求中的设备使用率。
4. 更长的测试系统寿命：基于广泛采纳的工业标准，允许技术升级来改进性能并满足将来的测试需求。

NI公司作为自动化测试领域的领导者，致力于为产品工程师们提供设计新一代自动化测试系统所需的硬件和软件。这本深入的开发者指南包含了设计新一代自动化测试系统结构所需要的信息。绪论部分描述了一个如图2所示的测试系统结构，为工程师们提供了相关策略，以应对器件复杂性的增加、开发周期的缩短、预算的降低等一系列挑战。

图2：NI公司提供了一套完整的、用于设计自动化测试系统的软硬件解决方案。

层次结构五：自动化测试系统管理软件

自动化的测试系统需要实现多种任务和测量功能：这些任务和功能中，一些与待测设备(DUT)相关的，而另一些对于每个待测设备是通用的。为了把维护费用降至最小，并且保证测试系统的寿命，实现DUT级别的任务与系统级别的任务相分离的测试策略是十分重要的，这样工程师们在整个开发周期中可以迅速地重用、维护并修改测试程序(或者模块)来满足特定的测试需求。

在所有的测试系统中，都存在着根据待测设备不同的不同操作，也存在着对于所有待测设备都通用的操作，例如系统级别的任务等。

对于每个设备不同的操作：仪器配置；测量；数据采集；结果分析；校准；测试模块。

对于每个设备通用的操作：操作界面；用户管理；DUT跟踪；测试流程控制；存储结果；测试报告。

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