原创 模块的可靠性预测简述

这几天一直有点忙，关于这方面的内容前面一直在学习，知道发现一个在做的文档中所有的电阻的失效率都是一样的时候存在着很多的怀疑，因此希望把这个问题能够比较深入的整理出一些内容来。首先呢做一个入门的简述，把一些概念内容整理一下。
可靠性在ISO8402质量标准中的定义：一个对象在规定的期限内，在稳定的条件下，能够实现稳定的功能。
可靠性工程
分析预期或实际的产品（过程或服务）的可靠性，通过分析，以确定采取何种措施，减少故障或减轻失效带来的影响。通常所作的包括预测失效率，分析失效模式和危害，设计实验流程，最后提出设计或制造加工时的改进计划。最终的目的使得产品更加稳定，避免维修和过大的成本。
可靠性预测分析
分析零部件和元器件的失效率，是可靠性分析的最常见的形式之一。
电子元器件可参考的标准：
MIL-HDBK-217F2：美国国防部颁布的，1995年最新更新的，使用最广泛的模型。
Telcordia Issue 1/2 （SR332）：广泛应用于通讯领域。
RDF 2000：UTE颁布的，一般用于欧洲的可靠性预测方法。
HRD5：可靠性手册第五版，英国电信公司开发的。
可靠性可以由不同的性能指标来衡量：

失效率【FR】（Failure Rate）

通常以FITS（每十亿个小时的失效次数）或者FPMH（每百万个小时的失效次数）为单位。是指工作到某一时刻尚未失效的产品，在该时刻后，单位时间内发生失效的概率，一般记为λ。

系统的失效率等于所有部件的失效率。

平均无故障时间【MTBF】（Mean Time Between Failure）：

MTBF = 1/FR

指相邻两次故障之间的平均工作时间，也称为平均故障间隔，单位一般为小时。

看看失效率曲线：
失效率曲线(Bathtub curve,浴盆曲线) 实践证明大多数设备的故障率是时间的函数，典型故障曲线称之为浴盆曲线，曲线的形状呈两头高，中间低，具有明显的阶段性，可划分为三个阶段：早期失效期、偶然失效期和耗损失效期。

第一阶段是早期失效期(Infant Mortality)：表明产品在开始使用时,失效率很高,但随着产品工作时间的增加,失效率迅速降低,这一阶段失效的原因大多是由于设计、原材料和制造过程中的缺陷造成的。
　　第二阶段是偶然失效期，也称随机失效期(Random Failures)：这一阶段的特点是失效率较低，且较稳定，往往可近似看作常数，产品可靠性指标所描述的就是这个时期，这一时期是产品的良好使用阶段, 偶然失效主要原因是质量缺陷、材料弱点、环境和使用不当等因素引起
　　第三阶段是耗损失效期(Wearout)：该阶段的失效率随时间的延长而急速增加, 主要由磨损、疲劳、老化和耗损等原因造成。