·带宽: 500 MHz
·上升时间(典型):750 ns
· 通道数量:2
· 重复取样(RIS)速率:200 GS/s
· 单次取样速率:5 GS/s
· 带宽限制:20 MHz, 200 MHz
· 输入阻抗:1MΩ || <20pF (10MΩ || 9.5 pF, 使用PP007探头)
· 输入耦合:50Ω : DC；1MΩ : AC,DC,GND
· 垂直分辨率:8位; 在增强分辨率(ERES)时最多11位
· 灵敏度(mv - V):50Ω : 2 mV/div - 1 V/div全面可变；1MΩ : 2 mV/div - 10 V/div全面可变
· 最大输入电压:50Ω : 5 Vrms, 1MΩ : 250 V max (峰值 AC : ≤ 10 kHz + DC) |
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·带宽: 500 MHz
·上升时间(典型):750 ns
· 通道数量:2
· 重复取样(RIS)速率:200 GS/s
· 单次取样速率:5 GS/s
· 带宽限制:20 MHz, 200 MHz
· 输入阻抗:1MΩ || <20pF (10MΩ || 9.5 pF, 使用PP007探头)
· 输入耦合:50Ω : DC；1MΩ : AC,DC,GND
· 垂直分辨率:8位; 在增强分辨率(ERES)时最多11位
· 灵敏度(mv - V):50Ω : 2 mV/div - 1 V/div全面可变；1MΩ : 2 mV/div - 10 V/div全面可变
· 最大输入电压:50Ω : 5 Vrms, 1MΩ : 250 V max (峰值 AC : ≤ 10 kHz + DC)
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精密半导体参数测试解决方案 直播时间： 01月08日 10:00
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