原创 关于单片机的ad采集精度-MC9S12C128笔记

2010-10-22 18:12 2904 4 4 分类: MCU/ 嵌入式

之前设计了一款PCB,AD波动很大,最大可以达到20mv左右,不能满足系统要求。于是一直搜索相关资料。今天看到飞思卡尔的MC9S12C128中对影响AD精度有介绍,原文如下:


A.2.3 Factors Influencing Accuracy


A.2.3.1 Source Resistance


A.2.3.2 Source Capacitance


A.2.3.3 Current Injection


总结如下:


1.source resistance(内电阻) 因为存有漏电流,在内电阻形成一定电压降


2.Source Capacitance(内电容): 单片机采样开始后,采样电容切换到ad口,由于需要给这个电容充电,就有可能引起一定的电压降。pdf中写到,如果要想讲采样误差保证在1LSB内,则外部滤波电容需要满足:Cf ≥ 1024 * (CINS – CINN). 其中CINS  CINN 分别是单片机ad口采样以及不采样时候的电容,这个pdf也有给出.


3.Current Injection(电流注入) 分为两种情况:


一是本通道电流注入影响。pdf中指出此种情况出现的条件是ad口电压Vin比VRH大或者比VRL小。


因为正常采样及保持都要求:VSSA ≤ VRL ≤ VIN ≤ VRH ≤ VDDA


二是相邻通道影响造成的本通道的电流注入,再加上本通道的内电阻


 

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