标签: 板级信号测试

主要介绍LVDS的测试方法LVDS传输系统测试方案－BJLKLVDS是低压差分信号的简称，由于其优异的高速信号传输性能，目前在高速数据传输领域得到了越来越多的应用。LVDS的传输系统可以采用专用带LVDS接口的芯片，也可以由FPGA加上LVDS的Serdes芯片组成。其典型架构如下：LVDS的Serializer芯片把FPGA的多路并行数据通过时分复用的方法变成较少路数、较高速率的串行LVDS信号进行传输，接收端的de-Serializer芯片再把接收到的串行LVDS信号解成多路并行数据。其好处在于FPGA通过外挂的LVDS芯片可以方便可靠地以高速率把内部数据传输出去，如NS、TI等公司大量提供这种LVDS的Serdes芯片。对于LVDS系统的测试，主要涉及以下几个方面：1/FPGA内部逻辑和并行接口测试，用于保证数据处理和控制的正确性；2/高速串行LVDS信号质量测试，用于保证LVDS信号的正确传输；3/高速互连电缆和PCB的阻抗测试，用于保证传输链路的信号完整性；4/系统误码率测试，用于验证系统实际传输的误码率；下面就几个方面分别介绍：1/FPGA内部逻辑和并行接口测试，用于保证数据处理和控制的正确性；传统上的FPGA内部信号调试有2种方法：直接探测和软逻辑分析仪的方案。直接探测的测试方法:是通过在逻辑代码里定义映射关系，把内部需要调试的信号映射到外部未使用的I/O管脚上，通过相应PCB走线和连接器……