主要介绍LVDS的测试方法 LVDS 传输系统测试方案 －BJLK LVDS 是低压差分信号的简称，由于其优异的高速信号传输性能， 目前在高速 数据传输领域得到了越来越多的应用。LVDS 的传输系统可以采用专用带 LVDS 接 口的芯片，也可以由 FPGA 加上 LVDS 的 Serdes 芯片组成。其典型架构如下： LVDS 的 Serializer 芯片把 FPGA 的多路并行数据通过时分复用的方法变成较 少路数、较高速率的串行 LVDS 信号进行传输，接收端的 de-Serializer 芯片再 把接收到的串行 LVDS 信号解成多路并行数据。 其好处在于 FPGA 通过外挂的 LVDS 芯片可以方便可靠地以高速率把内部数据传输出去，如 NS、TI 等公司大量提供 这种 LVDS 的 Serdes 芯片。 对于 LVDS 系统的测试，主要涉及以下几个方面： 1/ FPGA 内部逻辑和并行接口测试，用于保证数据处理和控制的正确性； 2/ 高速串行 LVDS 信号质量测试，用于保证 LVDS 信号的正确传输； 3/ 高速互连电缆和 PCB 的阻抗测试，用于保证传输链路的信号完整性； 4/ 系统误码率测试，用于验证系统实际传输的误码率； 下面就几个方面分别介绍： 1/ FPGA 内部逻辑和并行接口测试，用于保证数据处理和控制的正确性； 传统上的 FPGA 内部信号调试有 2 种方法：直接探测和软逻辑分析仪的方案。 直接探测的测试方法: 是通过在逻辑代码里定义映射关系，把内部需要调试的信号映射到外部未使 用的 I/O 管脚上，通过相应 PCB 走线和连接器……