标签: 全覆盖测试

一种FPGA的可编程逻辑单元的全覆盖测试方法第!"卷#第$期仪器仪表学报9.2:!";.:$%&"&年$月’()*+,+-./0*12.345)+*6)3)57*,60/8+*6%&"&一种!"#$的可编程逻辑单元的全覆盖测试方法廖永波，李#平，阮爱武（电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室#成都#F"&&G$）摘#要：提出并验证了一种新颖的HIJ自动测试系统，实现了’KL测试所需要的多次下载不同的配置图形，针对每个配置图形进行测试的需求；该方法通过建立规则布局’KL串行移位阵列为基础形成的HIJ试以及错误定位。利用本文提出的方法对N)2)*O公司N’$&"&型号HIJ现HIJ关键词：软硬件协同验证；HIJ中图分类号：PI%&FQ>"##文献标识码：!……