一种FPGA的可编程逻辑单元的全覆盖测试方法 第 !" 卷# 第 $ 期 仪 器 仪 表 学 报 9.2: !" ;.: $ %&"& 年 $ 月 ’()*+,+ -./0*12 .3 45)+*6)3)5 7*,60/8+*6 %&"& 一种 !"#$ 的可编程逻辑单元的全覆盖测试方法 廖永波，李# 平，阮爱武 （ 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室# 成都# F"&&G$ ） 摘# 要：提出并验证了一种新颖的 HIJ 自动测试系统，实现了 ’KL 测试所需要的多次下载不同的配置图形，针对每个配置图形进行测试的需求；该方法通过建立规则 布局 ’KL 串行移位阵列为基础形成的 HIJ 试以及错误定位。利用本文提出的方法对 N)2)*O 公司 N’$&"& 型号 HIJ 现 HIJ 关键词：软硬件协同验证；HIJ 中图分类号：PI%&F Q > "# # 文献标识码： !……