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一起因交流电源线烧毁导致开关弹簧未储能故障分析

应晶体管烧毁机理的研究：Ⅱ第ｌ３卷第４期１９９４年１２月真空与低温Ｖａｃｕｕｍ＆Ｃｒｙｏｇｅｎｉｃｓ１８７微波ＧａＡｓ功率场效应晶体管烧毁７，ｌ；ｆ机理的研究：Ⅱ．射频烧毁＿－－－＿＿●●袁泽亮范垂祯＿－＿＿－＿＿－－一－，一ｆ９，０（兰州物理研究所）ＧａＡｓｐｏｗｅｒＦＥＴｓ：ＰａｒｔⅡ．ＲＦｂｕｒｎｏｕｔＹｕａｎＺｅｌｉａｎｇＦａｎＣｈｕｉｚｈｅｎ（ＬａｎｚｈｏｎＩｎｓｔｉｔｕｔｅｏｆＰｈｙｓｉｃｓ）７／－／Ａｂｓｔｒａｃｔ，ＭｉｃｒｏｗａｖｅＧａＡｓｐｏｗｅｒＦＥＴｃｈｉｐｓｆａｂｒｉｃａｔｅｄｂｙＵＳｗｈｉｃｈａｐｐｅａｒｂｕｒｎｏｕｔｄｕｒｉｎｇｔｈｅＲＦｔｅｓｔｌａｇａｒｅｉｎｖｅｓｔｉｇａｔｅｄｂｙｍｅａｎｓＯｆｓｃａｎｎｉｎｇｅｌｅｃｔｒｏｎｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ（ＳＥＭ）ａｎｄＡｕｇｅｒｍｉｃｒｏｐｒｏｂｅ（ＳＡＭ）．Ｔｈｅｐｈｙｓｉｃｓｐｒｏｃｅｄｕｒｅａｎｄｍｅｃｈａｎｉｓｍ……