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近期青海某单位送修一台Fluke1281 万用表 ，客户报修仪器直流电流报错，无法使用。那么这种故障该如何处理呢？下面跟着安泰维修中心的工程师看看这一故障是如何维修的。 一、型号：Fluke1281 万用表 二、故障：直流电流报错，无法使用。 三、测试与判断：根据故障判断DC板、直流衰减板损坏，检测后确实如此，还存在 特性不良（静态测试 OK），导致直流电流无法测试。 四、维修与处理： 更换 DC板、直流衰减板损坏组件，烤机，验证指标，调整检测仪器。 五、维修结果：经拷机及综合指标检测，仪器各项指标正常，修复。 以上内容由安泰仪器维修中心网提供，更多有关仪器维修知识欢迎访问安泰仪器维修网，关注公众号：安泰测试

FLUKE 红外热像仪 TIX660 应用案例 1 、电子研发 1 毫米芯片热分析 客户：某知名光电器件制造商 检测难点：温度是 LED 芯片的核心技术指标，代表 LED 器件测设计水平，发热和散热情况直接影响 LED 寿命和颜色质量，由于 LED 芯片非常小，传统检测无法进行测温，如何观察和改善器件发热设计 解决方案： FlukeTIX660 加装微距镜头，安装三脚架根据工况，安装二维、或三维精密移动云台，热像仪通过手动调焦，完成最小目标对焦，调节云台至图像清晰，在热像仪上对图像进行缩放，观测芯片温度分布，通过 SmartView® 热分析软件绘制硫化温度曲线 , 进行后期详细分析。 2 、电子研发液晶屏面板坏点检测 客户：某知名液晶屏制造商 背景：需要对液晶屏面板像素检测，如果有坏点，或其他缺陷，因其内阻较高，在热像仪图像中呈现的是热点， 检测难点：目标小，液晶屏像素尺寸为微米级别，最小尺寸仅 40μm ，温差小，受到整体液晶屏热能传递，坏点温度与正常温度一般在 1℃ 以内。 解决方案： FlukeTIX660 加装微距镜头，防止液晶屏表面发射干扰，安装三脚架，进行拍摄，通过 SmartView® 热分析热图检测。 3 、电子研发 微米级电子器件检测 客 户： 某研究所 检测难点： 常见热像仪可有效检测最小目标通常为 0.2 mm 以上 , 对于微米级芯片来说 , 需要在像素和光学系统上均达到一定性能要求才可准确检测。 解决方案： TiX660 热像仪加装微距镜头 及长焦镜头 , 可检测最小为 32 µm 的目标 , 充分满足研究人员对微米级小目标的检测需求。 4 、精密机械加工检测 客 户： 某装备制造有限公司 检测难点： 精密丝杠在加工中温度必须控制在温升 1 ℃内 , 并需要看到螺纹切削完成后停止时冷却油的瞬间温升 , 设备运行速度最快超过 5 m/s 。 解决方案： TiX660 热像仪使用其录像及低温自动扑捉功能 , 对加工过程中的温度变化进行实时追踪。 5 、精密加工超镜面切削工艺研究 客 户： 某装备制造有限公司 检测难点：超镜面切削加工，对于刀头和材料本身温度进行检测和分析，以改善刀头的进刀控制，由于刀头尺寸较小大范围温度追踪难点，需要看小目标（ 2mm*1.5mm 刀头）的温度，检测距离不能在 10mm 以内，需要同时观察刀头及镜面材料温度，需要有一定视场角 FOV 。 解决方案： TiX660 热像仪加装微距镜头，及可以解决 1.5mm 刀头的较远距离检测问题，又可以将切削同时与镜面材料纳入同一幅热像图范围，使用录像功能可以检测刀头温度变化。