标签: 测试系统

磁光克尔效应测量系统与霍尔效应测试系统在原理、应用场景和测量参数等方面存在显著差异，具体区别如下： 1. ‌原理差异‌ l‌磁光克尔效应测量系统‌ 基于磁光克尔效应，通过分析线偏振光在磁性材料表面反射后相位差和振幅变化引起的偏振态改变（如克尔旋转角和椭偏率）来表征材料的磁学特性。 l‌霍尔效应测试系统‌ 基于霍尔效应原理，通过测量电流通过磁场中导体或半导体时产生的横向电势差（霍尔电压），计算载流子浓度、迁移率等电学参数。 2. ‌测量对象与参数‌ l‌磁光克尔系统‌ ‌对象‌：磁性薄膜、微结构（如自旋电子器件）。 ‌参数‌：磁各向异性、克尔旋转角、矫顽场、磁化方向等磁响应特性。 l‌霍尔系统‌ ‌对象‌：半导体材料、导体、电子器件（如传感器）。 ‌参数‌：载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及磁致电阻等电学特性。 3. ‌技术特点‌ l‌磁光克尔系统‌ ‌非接触式‌：通过光学反射探测，避免对样品物理损伤。 ‌高灵敏度‌：可测量微小磁化变化，适合薄膜及表面磁畴分析。 ‌磁场控制‌：需电磁铁或永磁体产生平滑可控磁场环境。 l‌霍尔系统‌ ‌接触式测量‌：需电极与样品接触，可能影响薄层或脆弱材料。 ‌多功能性‌：支持电流-电压（I-V）、电流-电阻（I-R）曲线测量，评估欧姆接触质量。 ‌小型化设计‌：部分系统采用永磁体和紧凑结构，便于操作。 4. ‌应用领域‌ l‌磁光克尔系统‌ 磁性纳米技术、磁存储材料（如MRAM）、自旋电子学等磁学基础研究。 l‌霍尔系统‌ 半导体工艺监控、传感器校准（如汽车转速传感器）、电子器件性能测试等工业与科研场景 总结 ‌对比维度‌ ‌磁光克尔系统‌ ‌霍尔系统‌ ‌核心原理‌ 磁光效应（光学偏振分析） 霍尔效应（电势差测量） ‌测量参数‌ 磁学特性（如各向异性） 电学特性（如载流子浓度） ‌适用材料‌ 磁性薄膜、表面/界面材料 半导体、导体、薄膜材料 ‌接触性‌ 非接触 接触式（需电极）

手动探针台是一种手动控制的探针台，通常用于没有很多待测器件需要测量或数据需要收集的情况下。该类探针台的优点是灵活、可变性高，易于配置环境和转换测试环境，并且不需要涉及额外培训和设置时间的电子设备、 PC 或软件。手动探针台系统只需要少量的培训，因此非常适合研发人员使用。 1. 将样品载入真空卡盘，开启真空阀门控制开关，使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。 2. 使用卡盘 X 轴 /Y 轴控制旋钮移动卡盘平台，在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。 3. 使用卡盘 X 轴 /Y 轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。 4. 显微镜切换为高倍率物镜，在大倍率下找到待测点，再微调显微镜聚焦和样品 x-y ，将影像调节清晰 , 带测点在显微镜视场中心。 5. 待测点位置确认好后 , 再调节探针座的位置 , 将探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的位置旁边 , 再使用探针座 X-Y-Z 三个微调旋钮 , 慢慢的将探针移至被测点 , 此时动作要小心且缓慢，以防动作过大误伤芯片，当探针针尖悬空于被测点上空时，可先用 Y 轴旋钮将探针退后少许，再使用 Z 轴旋钮进行下针，最后则使用 X 轴旋钮左右滑动，观察是否有少许划痕，证明是否已经接触。 6. 确保针尖和被测点接触良好后，则可以通过连接的测试设备开始测试。

电输运性质测试系统是一种用于物理学领域的科学仪器，可以进行霍尔效应、I-V特性（电阻率）及磁电阻（MR）的测量； 可得出参数：霍尔效应――方块电阻、电阻率、霍尔系数、导电类型、霍尔迁移率、载流子浓度；I-V特性的MR的特性曲线包括：不同磁场下的I-V特性曲线；不同温度下的I-V特性曲线；不同磁场下的变温I-V特性曲线；不同温度下的变磁场I-V特性曲线；电阻随温度、磁场变化的特性曲线；P-B曲线。 TESTIK-9系列电输运性质测试系统是集霍尔效应、磁阻、变温电阻、I-V特性等测试于一体的全自动化测试系统。系统考虑了集成一体性、屏蔽防干扰能力和操作人性化等用户经常忽略的问题，选取了美国Keithley的电测量仪表，磁场根据用户需要采用电磁铁或无液氦超导磁体，配备灵巧的测量样品杆和快速插拔样品卡，加上全自动化的专用测试软件，能让用户快速方便地进行电输运测试，并获得准确可靠的数据。此外，TESTIK-9系列还有多种高低温温度环境选件。TESTIK-9系列电输运性质测试系统是广大科研工作者对材料进行电输运性质研究的理想选择。 产品 特点 ： 1·电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率测试遵从美国材料与试验协会ASTM-F76标准 2·电阻测量范围宽：100nΩ（低电阻选件） ～ 100GΩ（高阻系统）； 3·使用插入式样品卡，样品安装方便，同时提供四探针卡，免去制作电极的麻烦 4·标准系统 一次可以同时测量2个样品，增加选件可同时测量4个样品； 5·测量和计算过程由软件自动执行，3分钟即可得到一个霍尔效应数据； 6·提供长时间高稳定性的磁场，24小时稳定性<±0.5G，并且磁场能够平滑过零 7·电磁铁电源内置高斯计，磁场从0到1kG只需20S即可控制在0.1G以内； 8·选择温度选件，可以进行不同温度下的霍尔效应和电阻的测量。 ​

锦正茂高低温真空磁场探针台 是具备提供高低温、真空以及磁场环境的高精度实验台，它的诸多设计都是专用的。因此，高低温磁场探针台的配置主要是根据用户的需求进行选配及设计。例如，要求的磁场值，均匀区大小、均匀度大小、样品台的尺寸等，均于磁力线在一定区域内产生的磁通密度相关联；位移台还可与磁流体密封搭配，实现水平方向二维移动和样品台 360 度转动；除此之外，该探针台和我司自主研发的高精度双极性恒流电源搭配使用户，可以磁场的高稳定性。因此，该类型的探针台主要依据客户的使用情况进行设计优化。 锦正茂高低温真空磁场探针台 探针台配备 4 个（可选 6 个或 8 个）拥有高精度位移的探针臂，同时配有高精度电子显微镜，便于微小样品的观察操作。探针可通过直流或者低频交流信号，用来测试芯片、晶圆片、封装器件等， 广泛应用于半导体工业、 MEMS 、超导、电子学、铁电子学、物理学、材料学和生物医学等领域。 测试范围： 磁特性测试、微波特性测试、直流、 RF 特性测试，微电子机械系统，超导电性测试，纳米电路的光电属性，量子点和线，高低温真空环境下的芯片测试，材料测试，霍尔测试，电磁输运特性等。 可选附件： þ 各类 DC 探针、高频探针、主动式探针、电缆线 þ CCD 或 C-MOS 视频成像装置 þ Chuck 运动装置 þ 电磁铁系统 / 超导磁铁系统 þ 1Mpa 正压系统升级 þ 超高温升级选件 þ 超高真空升级选件 þ 各类探针夹具 þ 屏蔽箱 þ 防振桌 þ 转接头 þ 静音真空泵 ​

探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。 磁场探针台就是在普通探针台的基础上，增加了磁性测量环境，包括一维、二维、三维磁场，还有水平或者竖直磁场等；既包括电磁铁，也包括亥姆霍兹线圈等。增加了磁场环境之后，结合探针台的优势，对于一些自旋电子学器件或者磁性传感器等的研究就会十分地方便。 磁场探针台主要包括磁场部分、探针台台面部分、探针座探针部分、显微镜部分、光学平台部分、位移台部分、测试线部分以及外接的测试仪表等，以上部分可以根据实际需求增加或者减少，磁场部分以及其它所需部分也可以根据需求进行特殊定制。