tag 标签: reliability

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    HumanReliabilityandErrorinTransportationSystems,B.S.Dhillon,Springer
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    2007年Rice大学硕士论文:Logicdesignforreliability
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    2013年UCLA博士论文:LogicSynthesisforFPGAReliability
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    AccuracyandReliabilityinScientificComputing_BoEinarsson(ed)(SIAM2005363s)
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    上传者: czdian2005
    TI_LMG3425R050文献资料Product-levelReliabilityofGaNDevices
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    时间: 2020-1-4 12:29
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    上传者: 978461154_qq
    Thehandbookonsonyqualityandreliaiblityrequirementregardingsemiconductordevice.SONYSEMICONDUCTORQualityandReliabilityHandBookQualityandReliabilityNotesThishandbookwascreatedforthepurposeofintroducingSony’sapproachtowardmaintainingandcontrollingsemiconductorqualityandreliabilitytocustomerswhoarecurrentlyusingSonysemiconductorproductsandtopotentialcustomerswhoareconsideringtheiruseinthefuture.ItalsoaimsforunderstandingofgeneralpointsforcautionwhenusingSonysemiconductorproducts.Responsibilityforqualityassurance,defectwarrantiesandotheritemsrelatingtoindividualtransactionsshallconformtothesesalescontractsandotheradjunctcontractsconcludedbetweentheSonySalesDepartmentorSonyagentsand……
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    时间: 2020-1-6 09:29
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    上传者: 微风DS
    【应用笔记】无引线倒装芯片球栅阵列的热处理和机械处理(ThermalManagementandMechanicalHandlingforLidlessFlipChipBall-GridArray)本应用笔记对Altera的器件的无引线倒装芯片球栅阵列(flipchipball-gridarray,FCBGA)的热处理和机械处理提供指导。Thisapplicationnoteprovidesguidanceonthermalmanagementandmechanicalhandlingoflidlessflipchipball-gridarray(FCBGA)forAltera®devices.ThermalManagementandMechanicalHandlingforLidlessFlipChipBall-GridArrayAN-659-1.0ApplicationNoteThisapplicationnoteprovidesguidanceonthermalmanagementandmechanicalhandlingoflidlessflipchipball-gridarray(FCBGA)forAlteradevices.Thisapplicationnoteincludesthefollowingsections:……
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    时间: 2019-12-24 22:52
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    上传者: givh79_163.com
    摘要:本应用笔记讨论了数字校准的优势,并给出了一些常见的校准电路实例。校准电路BillLaumeister,应用工程师Mar05,2012摘要:本应用笔记讨论了数字校准的优势,并给出了一些常见的校准电路实例。校准的目的是获得更精确、更安全并且成本合理的设计方案。生产厂商利用校准手段能够以合理的价格提供“完美”器件。Maxim提供众多数字校准产品,支持快速的自动测试和调整。校准电路列表ADC放大器支持电流源DAC滤波器LCD偏置LED复用器电源传感器支持VCO电压基准本文给出的电路实例有助于节省开发时间,加速方案实施。多数工程师只需在一个电路上花费少许时间,即可得到满足其特定应用的电路设计。点击相应链接,可得到相关设计的应用笔记或数据资料等详细信息。电子校准能够在大多数应用中降低系统成本,消除生产过程的误差并允许使用低成本元件,有助于缩短产品测试时间,降低产品返还率,有效提高可靠性。另一方面,还有助于改善用户对产品的满意度,降低生产成本、提高生产效率。越来越多的产品利用数控校准器件和数字电位器替代机械电位器,以消除人为误差。从而加速产品测试、降低成本。另外,数字器件不受震动、灰尘、污物、潮湿等因素的影响,而这些因素往往会导致数字电位器失效。小尺寸的电子校准器件还能够有效节省电路板面积,有利于便携产品设计。本应用笔记给出了一些特定应用的校准电路,有关校准设计的注意事项和工具,请访问:china.maxim-ic.com/cal。校准应用电路ADC参考应用笔记2013:“通过调整基准电压提高ADC精度”。参考应用笔记4617:“ADC输入转换器”。参考应用笔记647:“利用比较器/DAC组合解决数据采集问题”。放大器支持参考MAX5389数据资料。参考应用笔记184:“利用DS1669实现数控相移”……
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    时间: 2019-12-24 22:47
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    上传者: 238112554_qq
    摘要:本应用笔记讨论了数字校准的优势,并给出了一些常见的校准电路实例。校准电路BillLaumeister,应用工程师Mar05,2012摘要:本应用笔记讨论了数字校准的优势,并给出了一些常见的校准电路实例。校准的目的是获得更精确、更安全并且成本合理的设计方案。生产厂商利用校准手段能够以合理的价格提供“完美”器件。Maxim提供众多数字校准产品,支持快速的自动测试和调整。校准电路列表ADC放大器支持电流源DAC滤波器LCD偏置LED复用器电源传感器支持VCO电压基准本文给出的电路实例有助于节省开发时间,加速方案实施。多数工程师只需在一个电路上花费少许时间,即可得到满足其特定应用的电路设计。点击相应链接,可得到相关设计的应用笔记或数据资料等详细信息。电子校准能够在大多数应用中降低系统成本,消除生产过程的误差并允许使用低成本元件,有助于缩短产品测试时间,降低产品返还率,有效提高可靠性。另一方面,还有助于改善用户对产品的满意度,降低生产成本、提高生产效率。越来越多的产品利用数控校准器件和数字电位器替代机械电位器,以消除人为误差。从而加速产品测试、降低成本。另外,数字器件不受震动、灰尘、污物、潮湿等因素的影响,而这些因素往往会导致数字电位器失效。小尺寸的电子校准器件还能够有效节省电路板面积,有利于便携产品设计。本应用笔记给出了一些特定应用的校准电路,有关校准设计的注意事项和工具,请访问:china.maxim-ic.com/cal。校准应用电路ADC参考应用笔记2013:“通过调整基准电压提高ADC精度”。参考应用笔记4617:“ADC输入转换器”。参考应用笔记647:“利用比较器/DAC组合解决数据采集问题”。放大器支持参考MAX5389数据资料。参考应用笔记184:“利用DS1669实现数控相移”……
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    时间: 2020-1-10 13:00
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    上传者: 978461154_qq
    reliabilitytest第一部分表面与镀层微电子封装及组装中的可靠性分析实例铜基Ni/Pd/Au镀层PPF引线框架表面结构对封装性的影响李明雨教授/工学博士现代连接科学与技术研究中心哈尔滨工业大学深圳研究生院哈尔滨工业大学深圳研究生院http://join.hitsz.edu.cn哈尔滨工业大学深圳研究生院http://join.hitsz.edu.cn1st简介什么叫引线框架?什么叫PPF?为什么PPF?研究工作?什么叫引线框架?引线框架是芯片的载体――将芯片与外部电路连接起来。DieGoldwireLeadframeEpoxyMoldCompoundLeadsDieattach哈尔滨工业大学深圳研究生院http://join.hitsz.edu.cnWirebondabilityMoldabilitySolderabilityhttp://join.hitsz.edu.cn哈尔滨工业大学深圳研究生院什么叫PPF?PPF的英文全称为Pre-PlatedFinishLeadframe。在引线框架金属表面预先镀Ni/Pd/Au,取消元器件封装以后的电镀工序。为什么进行PPF?为什么PPF?AlllooksgoodBut…….一般结构为:FlashlayerProtectivelayerLeadframeMakerNoPbandfreecyanideFastcycletimeNoselectiveplatingrequiredLowcapitalinvestmentBetteryieldsHighthroughputA/THouseGoodsolde……
  • 所需E币: 4
    时间: 2020-1-15 16:28
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    上传者: 2iot
    PQPTwo-FaceReliabilityTestPlanlatestversionv002[pic]Two-FaceReliabilityTestPlanPQP-700-000248Revisionhistory:|Rev|Description|Originated|ApprovedBy&||||or|Date||||modified|||||by|||0.0|Initial|Jim|February15,2007||||Sanders|||0.1|Deletesection4.5referencetopainted|Jim|February16,2007|||surfaces;addednewstrainrelieftests|Sanders|……
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    时间: 2020-1-15 17:20
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    上传者: quw431979_163.com
    摩托罗拉信赖性实验的培训资料,Freescale_Reliability_Training[1]……
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    时间: 2020-1-14 15:00
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    上传者: 微风DS
    GaAs_mmic_reliability_assurance_guidelineJPLPublication96-25GaAsMMICReliabilityAssuranceGuidelineforSpaceApplicationsSammyKayaliJetPropulsionLaboratoryGeorgePonchakNASALewisResearchCenterRolandShawShasonMicrowaveCorporationEditorsDecember15,1996NationalAeronauticsandSpaceAdministrationJetPropulsionLaboratoryCaliforniaInstituteofTechnologyPasadena,CaliforniaTheresearchdescribedinthispublicationwascarriedoutbytheJetPropulsionLaboratory,CaliforniaInstituteofTechnology,underacontractwiththeNationalAeronauticsandSpaceAdministration.Referencehereintoanyspecificcommercialproduct,process,orservicebytradename,trademark,manufacturer,orotherwise,doesnotconstituteorimplyitsendorsementbytheUnitedStatesGovernmentortheJetPropulsionLaborato……