标签: 故障覆盖率

8位MCU设计验证及测试向量故障覆盖率分析

在原相移器设计算法的基础上,通过增加一个伪随机数生成函数来选择异或节点的相移器设计算法.实验结果表明,此算法不仅克服了原算法设计的相移器造成LFSR扇出过大的缺点,而且提高了伪随机测试故障的覆盖率.内建自测试相移器设计算法的优化吴玺，刘军，刘正琼（合肥工业大学计算机与信息学院，安徽合肥２３０００９）摘要：在原相移器设计算法的基础上，通过增加一个伪随机数生成函数来选择异或节点的相移器设计算法。实验结果表明，此算法不仅克服了原算法设计的相移器造成ＬＦＳＲ扇出过大的缺点，而且提高了伪随机测试故障的覆盖率。关键词：伪随机测试混合模式测试相移器线性反馈移位寄存器故障覆盖率集成电路的发展已进入ＳｏＣ时代，可将各种不同类一类Ｌ黔Ｒ的伴随矩阵，Ｄ为第二类ＬＦＳＲ的伴随矩阵。型的ＩＰ芯核集成在一块芯片上，构成一个完整的系统，容易证明，胛＝Ｄ。１【５１。１０…００既能加快开发进度，又能提高系统整体性能。但集成电路ｈ１…的测试却面临越来越多的挑战，如不同类型的ＩＰ核测试……

完全RTL的故障数目预测及故障覆盖率计算……