在原相移器设计算法的基础上,通过增加一个伪随机数生成函数来选择异或节点的相移器设计算法.实验结果表明,此算法不仅克服了原算法设计的相移器造成LFSR扇出过大的缺点,而且提高了伪随机测试故障的覆盖率. 内建自测试相移器设计算法的优化 吴玺，刘军，刘正琼 （合肥工业大学计算机与信息学院，安徽合肥２３０００９） 摘要：在原相移器设计算法的基础上，通过增加一个伪随机数生成函数来选择异或节点的相移 器设计算法。实验结果表明，此算法不仅克服了原算法设计的相移器造成ＬＦＳＲ扇出过大的缺点，而 且提高了伪随机测试故障的覆盖率。 关键词：伪随机测试混合模式测试相移器线性反馈移位寄存器故障覆盖率 集成电路的发展已进入ＳｏＣ时代，可将各种不同类 一类Ｌ黔Ｒ的伴随矩阵，Ｄ为第二类ＬＦＳＲ的伴随矩阵。 型的ＩＰ芯核集成在一块芯片上，构成一个完整的系统， 容易证明，胛＝Ｄ。１【５１。 １ ０ … ０ ０ 既能加快开发进度，又能提高系统整体性能。但集成电路 ｈ１ … 的测试却面临越来越多的挑战，如不同类型的ＩＰ核测试 ……