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片状钽电容失效分析第3期电子元件与材料Vol.23No.32004年3月ELECTRONICCOMPONENTS&MATERIALSMar.2004阻容元件片状钽电容器失效分析刘家欣肖大雏王宾如武汉大学自动化系湖北武汉430072摘要:针对钽电容在实际使用中失效率过高的问题从电路设计和制造工艺两个方面分析导致钽电容器失效的原因并根据分析的结果给出相应的预防钽电容器失效的具体措施关键词:钽电容器缓启动ICTFT浪涌中图分类号:TM535+.1文献标识码:A文章编号:1001-2028200403-0003-04FailureAnalysisofTantalumCapacitors……