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片状钽电容失效分析
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类别: 制造与封装
时间:2020-01-06
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资料介绍
片状钽电容失效分析 第3期 电 子 元 件 与 材 料 Vol.23 No.3 2004 年 3 月 ELECTRONIC COMPONENTS & MATERIALS M a r . 2004 阻 容 元 件 片 状 钽 电 容 器 失 效 分 析 刘家欣 肖大雏 王宾如 武汉大学自动化系 湖北  武汉  430072   摘要: 针对钽电容在实际使用中失效率过高的问题 从电路设计和制造工艺两个方面分析导致钽电容器失效的原 因 并根据分析的结果给出相应的预防钽电容器失效的具体措施 关键词: 钽电容器 缓启动 ICT FT 浪涌 中图分类号: TM535+.1 文献标识码:A 文章编号:1001-2028 2004 03-0003-04 Failure Analysis of Tantalum Capacitors ……
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芯片、器件的失效分析、质检员升职必备!
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