tag 标签: medalist

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  • 所需E币: 4
    时间: 2020-1-1 23:33
    大小: 1.31MB
    上传者: 2iot
    AgilentMedalisti1000D现在做得更好。通过对以前仅有模拟ICT状态的改进,现在,系统新的数字卡采用每一引脚都可编程特征,新的整套直观软件图形用户界面(GUI),从而使编程和开发易如反掌。凭借其新的数字能力,Medalisti1000D现在可以在一个低价的长线测试夹具上执行基于数字PCF/VCL库的测试,边界扫描和I2C/SPI串行编程。这就为正在寻找更好测试覆盖而不增加成本的客户提供一个极好的机会。i1000D的数字子系统承继业内领先Medalisti3070ICT的简洁性和强大能力,使客户只需点击几次鼠标,就能调整测试速度和驱动及接收电压。AgilentMedalisti1000D在线测试系统技术资料AgilentMedalisti1000D现在做得更好。通过对以前仅有模拟ICT状态AgilentMedalisti1000D的改进,现在,系统新的数字卡采用每一引脚都可编程特征,新的整套直观软在线测试器(ICT)通过为电子件图形用户界面(GUI),从而使编程和开发易如反掌。设备制造商提供更容易和成凭借其新的数字能力,Medalisti1000D现在可以在一个低价的长线测试夹具上执行基于数字PCF/VCL库的测试,边界扫描和I2C/SPI串行编程。这本更低廉的数字器件测试而就为正在寻找更好测试覆盖而不增加成本的客户提供一个极好的机会。重新定义了数字测试。i1000D的数字子系统承继业内领先Medalisti3070ICT的简洁性和强大能力,使客户只需点击几次鼠标,就能调整测试速度和驱动及接收电压。系统聚焦易于使用只需使用全套菜单和按钮,用户就能用简洁的GUI在调试过程……
  • 所需E币: 3
    时间: 2020-1-1 23:33
    大小: 755.43KB
    上传者: 16245458_qq.com
    AgilentMedalisti3070在线测试系统把当代先进AgilentMedalist3070的所有主要功能特性与AgilentMedalisti5000的先进体系结构及流程式的可使用性相结合。AgilentMedalisti3070在线测试系统技术资料强大灵活易用AgilentMedalisti3070在线测试系统把当代先进AgilentMedalist3070的所有主要功能特性与AgilentMedalisti5000的先进体系结构及流程式的可使用性相结合。您将得到直观的点击界面,自动化的测试调试和优化工具,以及更多加快测试编程和部署的性能特性。易于使用。有了新的点击界面,用户在操作测试自动优化器。AgilentMedalisti3070测试可通过仪时就不需要键入命令。所有命令都以菜单方式给点击一个按钮得到优化,从而把每一测试的时间减少出,因此用户不必记住要执行的每一条命令。没有经10-50%。自动优化器检查测试的稳定性,清除代码验的用户也能很快掌握系统操作。中的任何冲突,以得到干净和平稳的测试。尤其是能够在生产运行中调整程序,快速、利索、可靠地再次运行……
  • 所需E币: 3
    时间: 2020-1-1 23:36
    大小: 309.34KB
    上传者: givh79_163.com
    安捷伦MedalistSJ50Series3是一种经济、快速、简便易用、高度可靠的成像平台,它提供全面的检测覆盖范围,可以灵活地部署在表面封装技术生产线的多个位置,检测和防止缺陷。SJ50是一种用途异常广泛的平台,它为检测2D焊锡膏印刷质量、回流焊前和回流焊后元件及焊接界面提供了多种算法。通过提供可扩充的分辨率,SJ50Series3可以检测最具挑战性的元件,包括01005。安捷伦MedalistSJ50Series3自动化光学检测(AOI)和测量系统产品技术资料引领AOI方式安捷伦MedalistSJ50Series3是一种经济、快速、简便易用、高度可靠的成像平台,它提供全面的检测覆盖范围,可以灵活地部署在表面封装技术生产线的多个位置,检测和防止缺陷。SJ50是一种用途异常广泛的平台,它为检测2D焊锡膏印刷质量、回流焊前和回流焊后元件及焊接界面提供了多种算法。通过提供可扩充的分辨率,SJ50Series3可以检测最具挑战性的元件,包括01005。部分关键系统特点如下:改进的成像链技术,提高检测速度,能够跟上日益提高的……
  • 所需E币: 3
    时间: 2020-1-2 00:26
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    上传者: 二不过三
    作者:肖巍中国区ICT应用工程师安捷伦科技有限公司本应用指南考察了导致Medalisti3070在线测试系统上测试时间提高的某些应素,以及用户可以采用在Medalisti3070ICT上缩短系统测试时间,提高吞吐量的方法。AgilentMedalisti3070测试程序最优化肖巍中国区ICT应用工程师安捷伦科技有限公司本应用指南考察了导为什么测试时间会增加呢?测试时间的增加主要来自以下几个原因:致Medalisti3070在线测1.测试程序是通过IPG产生出来的,但是没有针对特别的产线上的板子试系统上测试时间提高的做程序优化。2.当在第一次测试程序调试的时候增加了测试选项。某些应素,以及用户可以3.在产线测试的时候增加了测试选项。采用在Medalisti30704.错误的打乱模拟测试的顺序。5.错误的上电顺序。ICT上缩短系统测试时6.使用默认的矢量循环时间来进行数字零件测试。间,提高吞吐量的方法。7.在上电测试过程中过度的等待。8.随意的使用“safeguardcool”命令。9.太复杂的测试。10.随意的在testplan中使用等……
  • 所需E币: 4
    时间: 2020-1-6 09:52
    大小: 581.11KB
    上传者: 二不过三
    AgilentMedalist焊珠探头技术是一种把测试目标直接放在印制电路板(PCB)信号走线上的技术,这是业内首创、经过充分调研、拥有证明文件和经过实际验证的技术。这些焊珠即可作为在线测试中的高可靠测试点。这项新技术极大改进了对高密度和高运行速度电路板在线测试的可达性,并实现了优异的故障覆盖。尤其是无需改变您现有的SMT工艺流程,就可把焊珠探头置放到PCB上。AgilentMedalist焊珠探头技术产品综述一种极大改进测试可达性的简单而灵巧的方法AgilentMedalist焊珠探头技术是一种把测试目标直接放在印制电路板(PCB)信号走线上的技术,这是业内首创、经过充分调研、拥有证明文件和经过实际验证的技术。这些焊珠即可作为在线测试中的高可靠测试点。这项新技术极大改进了对高密度和高运行速度电路板在线测试的可达性,并实现了优异的故障覆盖。尤其是无需改变您现有的SMT工艺流程,就可把焊珠探头置放到PCB上。今天面临的测试挑战:测试和布局部门间更少的争辩意味“超过1.5M的更小、更快着您的产品会更快地进入市场。随着PCB变得越来越小,为数据点使在线测试提供测试点也变得越来越困难。使用高速总线的设计也……