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Agilent Medalist i3070测试程序最优化
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类别: 测试测量
时间:2020-01-02
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资料介绍
作者:肖巍 中国区ICT 应用工程师 安捷伦科技有限公司 本应用指南考察了导致Medalist i3070 在线测试系统上测试时间提高的某些应素,以及用户可以采用在Medalist i3070ICT 上缩短系统测试时间,提高吞吐量的方法。 Agilent Medalist i3070 测试程序最优化 肖巍 中国区 ICT 应用工程师 安捷伦科技有限公司 本应用指南考察了导 为什么测试时间会增加呢? 测试时间的增加主要来自以下几个原因: 致 Medalist i3070 在线测 1. 测试程序是通过 IPG 产生出来的,但是没有针对特别的产线上的板子 试系统上测试时间提高的 做程序优化。 2. 当在第一次测试程序调试的时候增加了测试选项。 某些应素,以及用户可以 3. 在产线测试的时候增加了测试选项。 采用在 Medalist i3070 4. 错误的打乱模拟测试的顺序。 5. 错误的上电顺序。 I C T 上缩短系统测试时 6. 使用默认的矢量循环时间来进行数字零件测试。 间,提高吞吐量的方法。 7. 在上电测试过程中过度的等待。 8. 随意的使用“safeguard cool”命令。 9. 太复杂的测试。 10. 随意的在 testplan 中使用等……
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