Agilent Medalist i3070测试程序最优化
时间:2020-01-02
大小:364.49KB
阅读数:219
查看他发布的资源
资料介绍
作者:肖巍 中国区ICT 应用工程师 安捷伦科技有限公司
本应用指南考察了导致Medalist i3070 在线测试系统上测试时间提高的某些应素,以及用户可以采用在Medalist i3070ICT 上缩短系统测试时间,提高吞吐量的方法。 Agilent Medalist i3070
测试程序最优化
肖巍 中国区 ICT 应用工程师
安捷伦科技有限公司
本应用指南考察了导 为什么测试时间会增加呢?
测试时间的增加主要来自以下几个原因:
致 Medalist i3070 在线测
1. 测试程序是通过 IPG 产生出来的,但是没有针对特别的产线上的板子
试系统上测试时间提高的 做程序优化。
2. 当在第一次测试程序调试的时候增加了测试选项。
某些应素,以及用户可以
3. 在产线测试的时候增加了测试选项。
采用在 Medalist i3070 4. 错误的打乱模拟测试的顺序。
5. 错误的上电顺序。
I C T 上缩短系统测试时
6. 使用默认的矢量循环时间来进行数字零件测试。
间,提高吞吐量的方法。 7. 在上电测试过程中过度的等待。
8. 随意的使用“safeguard cool”命令。
9. 太复杂的测试。
10. 随意的在 testplan 中使用等……
版权说明:本资料由用户提供并上传,仅用于学习交流;若内容存在侵权,请进行举报,或
联系我们 删除。