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    时间: 2020-1-9 16:43
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    CWTS出的3GPP協議中文版,CWTS出的3GPP協議中文版……
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    时间: 2020-1-13 13:12
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    如何满足新的中国行业标准“YD-T1591-2006”中提出的手机充电接口要求本文描述了最新中国行业标准YD/T1591-2006和USB2.0规范中对手机锂电池充电器和接口的要求,介绍了如何使用Maxim的电源通道管理ICMAX8606来满足YD/T1591-2006和USB2.0的要求。中国曾于06年12月14日颁布了新的行业标准YD/T1591-2006,即移动通信终端设备的充电器和接口技术要求及测试方法。制定这样一个标准的目的是因为手机更新换代和消费者更换手机的频率越来越快,而不同手机充电器技术指标和接口不同,无法互换使用,消费者更换手机后造成旧充电器闲置浪费,不仅增加了消费者使用手机的成本,还会造成环境污染。通过制定手机充电器统一的接口标准,使得不同品牌、不同型号的手机可以共用充电器,消费者在购买新手机时仍可使用旧充电器,从而降低手机的使用成本。1.YD/T1591-2006标准的新要求从交流适配器到手机之间的连线传统上是交流适配器的一部分,如图1所示。新的行业标准在第四节“技术要求”中明确要求使用一段独立的连接线缆,一端是工业标准的USBA型插头,用来和交流适配器标准的USBA型插座连接。而用来连接手机的线缆另一端则由手机厂商自行设计。如图2所示。由于连接线缆的一端为工业标准的USBA型插头,手机消费者可以根据自己的意愿来为他们的手机选择符合新行业标准的交流适配器,诺基亚的手机用户可以选配摩托罗拉或三星的交流适配器,反之亦然。交流适配器可以仅作为选配件销售,这样用户再次购买新手机时就可以不用选购新的交流适配器了。[pic]图1[pic]……
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    时间: 2020-1-13 18:51
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    上传者: 二不过三
    几种限制固态微波功率放大器最大输出的方法维普资讯http://www.cqvip.com1996年第3期现代电子总第56期几种限制固态微波功率放大器最大输出的方法珥吧,岁一修整!(深圳粤海微波通信有限公司.深圳518067)擞派,末,毒专随着微波大功率固体器件的飞速发展,越来越多的雷达发射机采用了固态放大器作为功率合成的子单元。目前不论在相控阵雷达发射系统还是在集中式雷达发射系统中都使用了固态发射机。在固态雷达发射机的放大链中即有多级放大的问题,也有多路功率分配与合成的问题.在比较大型的相控阵雷达发射系统中,阵面单元多达几百个甚至两三干个。如机载相控阵,共有三个面阵组成,每个面阵又由一千多个有源和无源振子组成。集中式发射机系统,往往经由几十个功率组件合成,而每一个功率组件又由多路放大链合成。如某雷达共有64个功放组件合成,每一功放组件采用三级放大l6路合成的方式,这样,要使每一路功分都一致,这在工程上实现起来是有一定难度的,在每一个组件的输入端,功率电平的不平度是可想而知的,为了使……
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    时间: 2020-1-13 19:13
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    上传者: 2iot
    LCDDriverIC测试方法及其对测试系统提出的挑战ControlEngineeringChinaPage1of4LCDDriverIC测试方法及其对测试系统提出的挑战作者:宗伟,爱德万测试(苏州)有限公司上海分公司SE技术部LCD显示器件在中国已有二十多年的发展历程,已经从最初的以数字显示为主转变为以点阵字符、图形显示为主。LCD显示设备以其低电压驱动、微小功耗、能够与CMOS电路和LSI直接匹配、具有极薄的扁平结构、可以在极亮的环境光下使用、工艺简单等等特点成为了极有发展前景的显示器件。LCD显示器件种类繁多、发展迅速,从种类到原理、从结构到效应、从使用方式到应用范围差异很大,从测试原理上来说也就会有一些不同,目前比较常用的是STN和TFT的LCD显示器件。由于色彩表现能力、反应/刷新时间、视角等因素的限制,STN已经退出了大屏幕LCD器件的市场。不过由于彩屏手机、PDA市场的拓广,STN器件凭借其结构简单,技术要求不高,而且投资成本低等特点目前依然占有相当的市场份额。TFT型的LCD器件通过晶体管可以迅速地控制每个单元,由于各单元之间的电干扰很小,所以在使用大电流驱动时也不会有虚影和拖尾现象。较大的电流能提供更高的对比度、更锐利和更明亮的图像。为了使LCD设备工作,必须用到LCDDriver芯片,图1中所示的是比较常见的LCD器件的工作原理,当然也有许多厂商将这些部件集合在一起,称为LCD显示模块,但在生产设计时LCDDriver芯片依然是一个独立的部件。并且它的模拟输出直接驱动显示面板,因而LCDDriverIC的品质是液晶显示效果的决定性因素,因此出厂前必须经过严格的测试。由于这类IC具有大量高密度模拟输出引脚、低电压高频输入信号等特征,对于测试环境也是一个不小的考验,而且这种IC发展迅速,测试环境必须有一定的裕量,只有选择合适高效的测试系统才能够节……