LCD Driver IC 测试方法及其对测试系统提出的挑战Control Engineering China Page 1 of 4 LCD Driver IC 测试方法及其对测试系统提出的挑战 作者:宗伟，爱德万测试（苏州）有限公司上海分公司SE技术部 LCD显示器件在中国已有二十多年的发展历程，已经从最初的以数字显示为主转变为以点阵字符、图形显示为主。 LCD显示设备以其低电压驱动、微小功耗、能够与CMOS电路和LSI直接匹配、具有极薄的扁平结构、可以在极亮的环境光 下使用、工艺简单等等特点成为了极有发展前景的显示器件。 LCD显示器件种类繁多、发展迅速，从种类到原理、从结构到效应、从使用方式到应用范围差异很大，从测试原理上 来说也就会有一些不同，目前比较常用的是STN和TFT的LCD显示器件。由于色彩表现能力、反应/刷新时间、视角等因素 的限制，STN已经退出了大屏幕LCD器件的市场。不过由于彩屏手机、PDA市场的拓广，STN器件凭借其结构简单，技术 要求不高，而且投资成本低等特点目前依然占有相当的市场份额。TFT型的LCD器件通过晶体管可以迅速地控制每个单元， 由于各单元之间的电干扰很小，所以在使用大电流驱动时也不会有虚影和拖尾现象。较大的电流能提供更高的对比度、更锐 利和更明亮的图像。 为了使LCD设备工作，必须用到LCD Driver芯片，图1中所示的是比较常见的LCD 器件的工作原理，当然也有许多厂商 将这些部件集合在一起，称为LCD显示模块，但在生产设计时LCD Driver芯片依然是一个独立的部件。并且它的模拟输出直 接驱动显示面板，因而LCD Driver IC的品质是液晶显示效果的决定性因素，因此出厂前必须经过严格的测试。由于这类IC 具有大量高密度模拟输出引脚、低电压高频输入信号等特征，对于测试环境也是一个不小的考验，而且这种IC发展迅速，测 试环境必须有一定的裕量，只有选择合适高效的测试系统才能够节……