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二代SiPM测试板效果评估总结 概述 一代测试基本未进行深度测试，由此二代测试板将所有功能模块集成于单一PCB板上，这样就去除了在第一代出现的接插件物理损伤的可能。本文记录二代测试板基本功能测试结果，记录本版本还需要优化的地方。 二代SiPM读出测试系统测试结果 SiPM单通道输出信号测量，如图1所示，本版本添加了SMB作为测试点，与之前版本测试结果对比，可以发现信号基线要更干净一些。但是，基线上的晃动还存在，晃动的幅度范围在1mV左右。 图1：SiPM单个通到输出脉冲 时间支持脉冲信号测量（能量分支脉冲信号在此位置与时间分支信号一样），在示波器幅度刻度为100mV的情况下，测试结果如2所示，同时将幅度刻度调整到10mV，记录结果如图3所示。与图1不同，图2和图3都是使用示波器探头探测结果，探头会引入基线上下各超过10mV的噪声，还有图3右侧周期性的宽幅噪声。这个宽幅噪声属于环境引入的噪声，只能通过探头引入，SMB线缆上就没发现此噪声。如图4所示，基本PCB为上电，也能用探头探测到此干扰噪声。 图2：经过CBA放大后时间分支脉冲信号 图3：经过CBA放大之后（TOUT），示波器幅度刻度为10mV 图4：探头引入的宽幅周期性干扰噪声（即便PCB掉电） 滤波整形脉冲测量，如图5所示。如果不调整幅度刻度看不出信号有什么问题，波形基本符合要求，图中可以看出脉冲宽度大概在400ns左右。如果将时间刻度加大，比如2us，获得的测量结果如图6所示。此时发现在脉冲信号基线上叠加有“晃动”噪声。该晃动噪声围绕在基线上下50mV左右。目前怀疑此晃动来源于图1中的微小晃动。 图5：滤波整形脉冲，40ns时间刻度 图6：滤波整形脉冲，2us时间刻度