原创 二代SiPM测试板效果评估总结

2024-6-16 14:25 4417 1 1 分类: 测试测量 文集: SiPM(MPPC)测试

二代SiPM测试板效果评估总结

概述


一代测试基本未进行深度测试,由此二代测试板将所有功能模块集成于单一PCB板上,这样就去除了在第一代出现的接插件物理损伤的可能。本文记录二代测试板基本功能测试结果,记录本版本还需要优化的地方。


二代SiPM读出测试系统测试结果

  1. SiPM单通道输出信号测量,如图1所示,本版本添加了SMB作为测试点,与之前版本测试结果对比,可以发现信号基线要更干净一些。但是,基线上的晃动还存在,晃动的幅度范围在1mV左右。

图1:SiPM单个通到输出脉冲


  1. 时间支持脉冲信号测量(能量分支脉冲信号在此位置与时间分支信号一样),在示波器幅度刻度为100mV的情况下,测试结果如2所示,同时将幅度刻度调整到10mV,记录结果如图3所示。与图1不同,图2和图3都是使用示波器探头探测结果,探头会引入基线上下各超过10mV的噪声,还有图3右侧周期性的宽幅噪声。这个宽幅噪声属于环境引入的噪声,只能通过探头引入,SMB线缆上就没发现此噪声。如图4所示,基本PCB为上电,也能用探头探测到此干扰噪声。

图2:经过CBA放大后时间分支脉冲信号

图3:经过CBA放大之后(TOUT),示波器幅度刻度为10mV

图4:探头引入的宽幅周期性干扰噪声(即便PCB掉电)


  1. 滤波整形脉冲测量,如图5所示。如果不调整幅度刻度看不出信号有什么问题,波形基本符合要求,图中可以看出脉冲宽度大概在400ns左右。如果将时间刻度加大,比如2us,获得的测量结果如图6所示。此时发现在脉冲信号基线上叠加有“晃动”噪声。该晃动噪声围绕在基线上下50mV左右。目前怀疑此晃动来源于图1中的微小晃动。

图5:滤波整形脉冲,40ns时间刻度

图6:滤波整形脉冲,2us时间刻度

作者: coyoo, 来源:面包板社区

链接: https://mbb.eet-china.com/blog/uid-me-1010859.html

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