tag 标签: 制造工艺

相关博文
  • 2024-11-11 17:47
    0 个评论
    多点支撑:滚珠导轨的均匀分布优势!
    滚珠导轨的滚珠稳定性可以有效保持滚珠导轨的稳定运行,减少滚珠脱落的风险,确保设备的长期稳定性和可靠性。事实上,滚珠导轨的滚珠稳定性主要依赖于以下几个方面: 1、精密的制造工艺:滚珠导轨的导轨和滑块通常采用高精度的研磨工艺,表面光滑,有助于减少摩擦,提高滚珠的稳定性和导轨的寿命,确保滚珠在其上顺畅滚动。 2、滚珠的均匀分布:在滚珠导轨的设计中,滚珠被均匀分布在多个平行轨道上,形成多点支撑,分散受力,有助于保证运动过程中的稳定性,防止滚珠在运动过程中发生偏移或“交通堵塞”。 3、正确的安装:安装时需要进行良好的对中调整和预紧处理,确保导轨和关键部件的紧密结合,避免因装配不良引发的滚珠掉落。此外,安装过程中要仔细对准滚珠通道,避免损坏导轨或滚珠。 4、预紧力的应用:通过在滚珠导轨中施加预紧力,可以增加滚珠与导轨之间的接触,减少滚珠运动时的摆动和偏移,从而提高导轨的刚性和承载能力以及提高传动的精度和稳定性。 5、润滑油的合理使用:适量的高品质润滑油可以均匀涂抹在滚珠与导轨接触面上,可以减少金属间的直接摩擦,使滚珠滑动更加轻盈无声。 6、定期的维护检查:长时间使用后,导轨表面可能会产生污垢和其他杂质,这些会影响滚珠的正常运行。因此,需要定期对导轨进行清洗和保养,确保其平滑运行。同时,还要定期检查滚珠余量,防止过度挤压或松弛的情况发生‌。 除此之外,在滚珠导轨的使用过程中,要特别注意避免强外力对导轨的冲击,特别是在导轨未装有保护装置时,更应小心谨慎,以免导致滚珠掉落,导致影响精度等问题。
  • 热度 5
    2022-7-29 09:46
    1840 次阅读|
    3 个评论
    PCB的铜线脱落(也是常说的甩铜)不良,受一些一i尿素影响,那么PCB厂甩铜常见的原因有以下几种: 一、 PCB厂制程因素: 1、 铜箔蚀刻过度,市场上使用的电解铜箔一般为单面镀锌(俗称灰化箔)及单面镀铜(俗称红化箔),常见的甩铜一般为70um以上的镀锌铜箔,红化箔及18um以下灰化箔基本都未出现过批量性的甩铜。客户线路设计好过蚀刻线的时候,若铜箔规格变更后而蚀刻参数未变,造成铜箔在蚀刻液中的停留时间过长。因锌本来就是活泼金属类,当PCB上的铜线长时间在蚀刻液中浸泡时,必将导致线路侧蚀过度,造成某些细线路背衬锌层被完全反应掉而与基材脱离,即铜线脱落。还有一种情况就是PCB蚀刻参数没有问题,但蚀刻后水洗,及烘干不良,造成铜线也处于PCB便面残留的蚀刻液包围中,长时间未处理,也会产生铜线侧蚀过度而甩铜。这种情况一般表现为集中在细线路上,或天气潮湿的时期里,整张PCB上都会出现类似不良,剥开铜线看其与基层接触面(即所谓的粗化面)颜色已经变化,与正常铜箔颜色不一样,看见的是底层原铜颜色,粗线路处铜箔剥离强度也正常。 2、 PCB流程中局部发生碰撞,铜线受外机械力而与基材脱离。此不良表现为不良定位或定方向性的,脱落铜线会有明显的扭曲,或向同一方向的划痕/撞击痕。剥开不良处铜线看铜箔毛面,可以看见铜箔毛面颜色正常,不会有侧蚀不良,铜箔剥离强度正常。 3、 PCB线路设计不合理,用厚铜箔设计过细的线路,也会造成线路蚀刻过度而甩铜。 二、 层压板制程原因: 正常情况下,层压板只要热压高温段超过30min后,铜箔与半固化片就基本结合完全了,故压合一般都不会影响到层压板中铜箔与基材的结合力。但在层压板叠配、堆垛的过程中,若PP污染,或铜箔毛面的损伤,也会导致层压后铜箔与基材的结合力不足,造成定位(仅针对于大板而言)或零星的铜线脱落,但测脱线附近铜箔剥离强度也不会有异常。 三、 层压板原材料原因: 1、 上面有提到普通电解铜箔都是毛箔镀锌或镀铜处理过的产品,若毛箔生产时峰值就异常,或镀锌/镀铜时,镀层晶枝不良,造成铜箔本身的剥离强度就不够,该不良箔压制板料制成PCB后在电子厂插件时,铜线受外力冲击就会发生脱落。此类甩铜不良剥开铜线看铜箔毛面(即与基材接触面)不会后明显的侧蚀,但整面铜箔的剥离强度会很差。 2、 铜箔与树脂的适应性不良:现在使用的某些特殊性能的层压板,如HTg板料,因树脂体系不一样,所使用固化剂一般是PN树脂,树脂分子链结构简单,固化时交联程度较低,势必要使用特殊峰值的铜箔与其匹配。当生产层压板时使用铜箔与该树脂体系不匹配,造成板料覆金属箔剥离强度不够,插件时也会出现铜线脱落不良。
  • 热度 22
    2021-12-10 14:32
    1396 次阅读|
    0 个评论
    我们来谈一谈半导体集成电路。 通常,大规模集成电路和集成电路也被称为“LSI(Large Scale Integrated Circuits)”和“IC(Integrated Circuits)”。根据电路规模,在名称上会有这样的不同,但并没有严格的区分。很早以前大多称为“IC”。 正如您所知道的,一个晶体管只能执行简单的工作,但是通过将多个晶体管制作在同一个硅衬底上,则可以实现复杂的功能和高精度的电路工作。半导体集成电路(LSI、IC)的电路设计者的主要工作是通过晶体管的组合来打造出色的电路。 ROHM量产中的主要产品群包括3,480种电源管理和电源IC、652种存储器、396种线性放大器、259种电机驱动器和执行器驱动器、133种音频IC和视频IC等共5115种产品。其中也包括很多种晶体管和二极管。随着从传统的定制产品向通用产品的转变,半导体集成电路(LSI、IC)的产品体系也越来越丰富。 大约在30年前,也就是我刚加入ROHM公司的年代,双极器件和CMOS器件的最小布线宽度或栅极长度是10µm(10×10-6m),而如今,最近有新闻称国外已经开始着手开发2nm(2×10-9m)的CMOS器件了(预计2022年完成)。与30多年前相比,如今的最小加工尺寸已经发展到1/5,000,可见微细化发展程度之大。这是一个令人惊叹的数字,这意味着最小栅极长度仅为几个原子大小的CMOS器件的制造与量产将成为可能。真的很棒!其实,对于这种微细化的发展趋势,是有一个著名的定律的,即美国英特尔公司提出的“摩尔定律”。其核心内容为:集成电路上可以容纳的晶体管数目在大约每经过1.5年~2年便会增加一倍。英特尔的中央处理器(CPU)也是基于该定律制造的。 另外,在IEEE国际器件与系统路线图IRDS(IEEE International Roadmap for Devices and Systems)中,也详细预测了未来的制造工艺发展趋势。感兴趣的可以上网搜索一下,很有意思(https://irds.ieee.org/)!如果半导体集成电路(LSI、IC)的元器件尺寸越来越小,那么在同一尺寸的芯片上将可以集成更多的晶体管,从而可以实现更高的性能。另外,虽然半导体元器件的耐压将会变低,但工作电压也会随之变低,从而可以延长电池的驱动时间。此外,由于半导体元器件的寄生电容减小,因此工作速度会更高,性能也会更高。 现在让我们来看看“电磁兼容性(EMC)”和微细化之间的关系吧!对于自身发出电磁噪声的“电磁干扰(EMI)”来说,随着微细化的发展,工作电压会越来越低,低频电磁噪声随之减少,工作频率由于寄生电容的减小而提高,从而呈现高频噪声增加的趋势。而对于由外部电磁噪声导致误动作的情况——“电磁敏感性(EMS)”来说,同样,随着微细化的发展,工作电压也会越来越低,导致噪声容限(noise margin)变小,因此反应更灵敏,更容易发生误动作(这点很重要!)。也就是说,并不是最新的制造工艺都是好的,从电磁兼容性(EMC)角度讲,在很多情况下,用稍旧的制造工艺量产的半导体集成电路(LSI、IC)反而更好。 例如,对于差分运算放大器(运放)来说,最好选择至少能够确保所需工作带宽的产品。如果是带宽扩展到超过必要的更高频率的产品(更加微细化的制造工艺),就需要增加对高频条件下电磁兼容性(EMC)的验证(需要额外关注)。此外,对于通用逻辑等产品,则希望避免选择工作电压低于所需电压的产品。此外,对于实现了复杂功能的产品,有各种措施(技术)和设计方法来改善电磁兼容性(EMC)。 来源:ROHM/稻垣
  • 热度 22
    2013-3-11 11:01
    923 次阅读|
    0 个评论
    一、课程开设背景: 随着各大跨国公司逐步把研发中心移至中国,以及中国本土的高科技公司逐渐增多,从事电子产品研发工作的工程师越来越多,特别是硬件开发人员,普遍存在对制造工艺技术的不熟悉,可制造性概念比较模糊。对PCB布局设计,元件选择,制造工艺流程选择,热设计,生产测试手段等方面的实际经验不足,导致设计出的产品不具备可生产性或可生产性差,需要多次反复改板,影响了产品的推出日期,甚至影响了产品的质量和可靠性。 二、举办单位:鼎创国际管理咨询有限公司               中国电子信息工程协会               北京军科宏远科技发展有限公司 三、培训时间:2013年04月19-20日(04月18日报到) 四、培训地点:北    京(具体地点及路线见报到通知) 五、课程对象:      产品硬件设计工程师,CAD layout工程师,生产工程师、 工艺工程师、设备工程师、品质工程师、硬件研发部经理、工程部经理、品质部经理 六、课程特点: 本课程以DFM的基本理念出发,深入浅出地介绍了DFM的基本知识、方法和常用问题。引导学员从认识生产工艺入手,逐步了解PCB制造过程,PCB材料选择,SMT封装和插件的选择,现代电子组装过程,不同工艺路线对产品设计的影响,以及热设计,钢网设计,可测试性设计和可返修性设计等内容。并探讨了如何建立DFM规范等话题。通过本课程的学习,学员能够掌握DFM的基本思想和方法,并且可以着手开展DFM的工作,提升公司产品设计水平,缩短与国际先进水平的差距,提高产品竞争力。 七、课程大纲:     ( 一)、电子产品工艺设计概述      (二)、SMT制造过程概述      (三)、基板和元件的工艺设计与选择     (四)、  电子产品的板级热设计       (五)、焊盘设计      (六)、PCB布局、布线设计      (七)、钢网设计        (八)、电子工艺技术平台建立       (九)、  讨论      八、授课专家介绍:军科宏远专家组成员 报名咨询 : 15321025878   junkehy@sina.com
  • 热度 30
    2012-11-20 10:40
    2612 次阅读|
    4 个评论
           根据摩尔定理,IC上可容纳的晶体管数目,约每隔18个月便会增加一倍,性能也将提升一倍。但随着IC上晶体管的集成度越来越高,在45nm节点技术中,MOS管的栅介质厚度减小到了1.2nm,几乎只是5个硅原子的厚度,器件的物理电气性能几乎达到了极限。因此,这些困难都催生了新一代金属的诞生。在45nm技术节点处,以金属/高K介质为代表的新一代工艺技术已经开始应用于半导体产业。在32nm技术节点及以下,这些技术必将得到进一步的推广和应用。而在技术发展的过程中,半导体产业也遇到了成本研发成本不断提高,先进技术的集中化和垄断化程度越来越高的趋势,调研报告最后也对半导体产业的市场现状作了一定的总结和分析。
相关资源
  • 所需E币: 1
    时间: 2024-7-11 21:09
    大小: 59.67MB
    上传者: milktea88
    第1章引言1.1崛起的CMOS工艺制程技术1.1.1双极型工艺制程技术简介1.1.2PMOS工艺制程技术简介1.1.3NMOS工艺制程技术简介1.1.4CMOS工艺制程技术简介1.2特殊工艺制程技术1.2.1BiCMOS工艺制程技术简介1.2.2BCD工艺制程技术简介1.2.3HV-CMOS工艺制程技术简介1.3 MOS集成电路的发展历史1.4MOS器件的发展和面临的挑战参考文献第2章先进工艺制程技术2.1应变硅工艺技术2.1.1应变硅技术的概况2.1.2应变硅技术的物理机理2.1.3源漏嵌入SiC应变技术2.1.4源漏嵌入SiGe应变技术2.1.5 应力记忆技术2.1.6接触刻蚀阻挡层应变技术2.2HKMG工艺技术2.2.1栅介质层的发展和面临的挑战2.2.2衬底量子效应2.2.3多晶硅栅耗尽效应2.2.4等效栅氧化层厚度2.2.5栅直接隧穿漏电流2.2.6高介电常数介质层2.2.7HKMG工艺技术2.2.8金属嵌入多晶硅栅工艺技术2.2.9金属替代栅极工艺技术2.3SOI工艺技术2.3.1SOS技术2.3.2SOI技术2.3.3PD-SOI2.3.4FD-SOI2.4FinFET和UTB-SOI工艺技术2.4.1FinFET的发展概况2.4.2FinFET和UTB-SOI的原理2.4.3FinFET工艺技术参考文献第3章工艺集成3.1隔离技术3.1.1pn结隔离技术3.1.2LOCOS(硅局部氧化)隔离技术3.1.3STI(浅沟槽)隔离技术3.1.4LOD效应3.2硬掩膜版工艺技术3.2.1硬掩膜版工艺技术简介3.2.2硬掩膜版工艺技术的工程应用3.3漏致势垒降低效应和沟道离子注入3.3.1漏致势垒降低效应3.3.2晕环离子注入3.3.3浅源漏结深3.3.4倒掺杂阱3.3.5阱邻近效应3.3.6反短沟道效应3.4热载流子注入效应和轻掺杂漏(LDD)工艺技术3.4.1热载流子注入效应简介3.4.2双扩散漏(DDD)和轻掺杂漏(LDD)工艺技术3.4.3侧墙(SpacerSidewall)工艺技术3.4.4轻掺杂漏离子注入和侧墙工艺技术的工程应用3.5 金属硅化物技术3.5.1Polycide工艺技术3.5.2Salicide工艺技术3.5.3SAB工艺技术3.5.4SAB和Salicide工艺技术的工程应用3.6静电放电离子注入技术3.6.1静电放电离子注入技术3.6.2静电放电离子注入技术的工程应用3.7金属互连技术3.7.1接触孔和通孔金属填充3.7.2铝金属互连3.7.3铜金属互连3.7.4阻挡层金属参考文献第4章工艺制程整合4.1亚微米CMOS前段工艺制程技术流程4.1.1衬底制备4.1.2双阱工艺4.1.3有源区工艺4.1.4LOCOS隔离工艺4.1.5阈值电压离子注入工艺4.1.6栅氧化层工艺4.1.7多晶硅栅工艺4.1.8轻掺杂漏(LDD)离子注入工艺4.1.9侧墙工艺4.1.10源漏离子注入工艺4.2亚微米CMOS后段工艺制程技术流程4.2.1ILD工艺4.2.2接触孔工艺4.2.3金属层1工艺4.2.4IMD1工艺4.2.5通孔1工艺4.2.6金属电容(MIM)工艺4.2.7金属2工艺4.2.8IMD2工艺4.2.9通孔2工艺4.2.10顶层金属工艺4.2.11钝化层工艺4.3深亚微米CMOS前段工艺技术流程4.3.1衬底制备4.3.2有源区工艺4.3.3STI隔离工艺4.3.4双阱工艺4.3.5栅氧化层工艺4.3.6多晶硅栅工艺4.3.7轻掺杂漏(LDD)离子注入工艺4.3.8侧墙工艺4.3.9源漏离子注入工艺4.3.10HRP工艺4.3.11Salicide工艺4.4深亚微米CMOS后段工艺技术4.5纳米CMOS前段工艺技术流程4.6纳米CMOS后段工艺技术流程4.6.1ILD工艺4.6.2接触孔工艺4.6.3IMD1工艺4.6.4金属层1工艺4.6.5IMD2工艺14.6.6通孔1和金属层2工艺4.6.7IMD3工艺4.6.8通孔2和金属层3工艺4.6.9IMD4工艺4.6.10顶层金属Al工艺4.6.11钝化层工艺、参考文献第5章晶圆接受测试(WAT)5.1WAT概述5.1.1WAT简介5.1.2WAT测试类型5.2MOS参数的测试条件5.2.1阈值电压Vt的测试条件5.2.2饱和电流Idsat的测试条件5.2.3漏电流Ioff的测试条件5.2.4源漏击穿电压BVD的测试条件5.2.5衬底电流Isub的测试条件5.3栅氧化层参数的测试条件5.3.1电容Cgox的测试条件5.3.2电性厚度Tgox的测试条件5.3.3击穿电压BVgox的测试条件5.4寄生MOS参数测试条件5.5pn结参数的测试条件5.5.1电容Cjun的测试条件5.5.2击穿电压BVjun的测试条件5.6方块电阻的测试条件5.6.1NW方块电阻的测试条件5.6.2PW方块电阻的测试条件5.6.3Poly方块电阻的测试条件5.6.4AA方块电阻的测试条件5.6.5金属方块电阻的测试条件5.7接触电阻的测试条件5.7.1AA接触电阻的测试条件5.7.2Poly接触电阻的测试条件5.7.3金属通孔接触电阻的测试条件5.8隔离的测试条件5.8.1AA隔离的测试条件5.8.2Poly隔离的测试条件5.8.3金属隔离的测试条件5.9电容的测试条件5.9.1电容的测试条件5.9.2电容击穿电压的测试条件
  • 所需E币: 3
    时间: 2023-9-19 00:31
    大小: 29.62MB
    上传者: 破晓
    锂离子电池制造工艺原理与应用
  • 所需E币: 3
    时间: 2023-1-13 09:12
    大小: 7.17MB
    上传者: 张红川
    变压器铁心制造工艺技术
  • 所需E币: 3
    时间: 2023-1-13 09:11
    大小: 5.66MB
    上传者: 张红川
    变压器绕组制造工艺技术
  • 所需E币: 1
    时间: 2021-3-24 16:08
    大小: 9.09MB
    上传者: samewell
    第四章-集成电路制造工艺
  • 所需E币: 2
    时间: 2021-3-24 16:10
    大小: 9.42MB
    上传者: samewell
    集成电路制造工艺课件集成电路制造工艺PPT_其它_高等教育_教育专区。集成电路制造工艺集成电路的发展历史集成电路Integrated.
  • 所需E币: 0
    时间: 2021-3-25 01:31
    大小: 193.37KB
    上传者: stanleylo2001
    硬件工程师培训教程05第二节CPU的制造工艺
  • 所需E币: 1
    时间: 2021-3-23 15:44
    大小: 1.38MB
    上传者: Goodluck2020
    集成电路制造工艺之光刻与刻蚀工艺
  • 所需E币: 2
    时间: 2021-3-23 23:10
    大小: 2.8MB
    上传者: stanleylo2001
    集成电路的制造工艺《集成电路制造工艺》是2007年电子工业出版社出版的图书,该书作者是史小波。
  • 所需E币: 1
    时间: 2021-3-19 21:48
    大小: 4.62MB
    上传者: samewell
    汽车驻车辅助传感器的制造工艺
  • 所需E币: 5
    时间: 2021-3-20 20:59
    大小: 56.25MB
    上传者: samewell
    《纳米集成电路制造工艺(第2版)》是2017年清华大学出版社出版的书籍,作者是张汝京等。这是国内首本关于纳米集成电路制造工艺的著作。半导体产业领军人物张汝京组织,顶级半导体代工厂一线科研人员编写,清华大学王志华教授作序推荐。
  • 所需E币: 2
    时间: 2021-3-22 17:25
    大小: 1.38MB
    上传者: Goodluck2020
    集成电路制造工艺之光刻与刻蚀工艺.zip
  • 所需E币: 0
    时间: 2021-3-11 20:09
    大小: 2.2MB
    上传者: stanleylo2001
  • 所需E币: 5
    时间: 2021-3-10 19:57
    大小: 6.47MB
    上传者: htwdb
    机械制造工艺基础 切削加工工艺基础
  • 所需E币: 0
    时间: 2020-12-27 22:08
    大小: 1.89MB
    上传者: stanleylo2001
    从设计角度透视数字集成电路-制造工艺
  • 所需E币: 0
    时间: 2020-12-11 23:47
    大小: 4.65MB
    上传者: czdian2005
    汽车驻车辅助传感器的制造工艺
  • 所需E币: 0
    时间: 2020-12-6 21:44
    大小: 9.01MB
    上传者: xgp416
    第四章-集成电路制造工艺
  • 所需E币: 5
    时间: 2020-12-1 23:06
    大小: 2.74MB
    上传者: Goodluck2020
    第三章-集成电路的制造工艺
  • 所需E币: 5
    时间: 2020-12-1 23:07
    大小: 1.36MB
    上传者: Goodluck2020
    集成电路制造工艺之光刻与刻蚀工艺
  • 所需E币: 0
    时间: 2020-11-9 21:21
    大小: 148.47KB
    上传者: Goodluck2020
    电源逆变器的制造工艺问答(电源技术)