原创 TFT-LCD 驱动PCB上芯片（ASIC)信号接口烧坏与热插拔关系

问：
潘先生，你好，我在客户端发现有我们的驱动PCB上的ASIC （input LVDS signal)不良情况发生，经过分析，大多是ASIC LVDS信号的输入口被烧坏，我已经测量热插拔时的确有超过30%的瞬间耦合电压，但是在客户端正常情况下热插拔（直接拔掉电源线）不过10次，但是我拿5套客户系统+ TFT LCD，每套均重复热插拔300次，均不能复制该现象，可以给一些建议吗？
答：
我也碰到类似的情况，特定的板子和特定的人比较容易烧坏芯片，而其他的板子和其他的人则不太容易。在示波器上观察，前者的脉冲宽度明显要比后者宽。至于究竟是多宽会 烧坏芯片还没有定论，我们曾解剖过经历了50次热插拔但还没有损坏的芯片，发现内部的ESD保护层已有损伤，但未被击穿。我们的初步结论是大部分的击穿来自于积累，但不排 除一二次瞬间的冲击，不过这比较难于捕捉。