原创 CDCE调试记录

 2009-8-4 21:47  3239 8 9 分类: 通信

CDCE925测试记录

项目背景：

为了给TLC5510提供时钟，我们采取两种方案：方案1：用44b0x产生的PWM提供。方案2：用时钟芯片。方案1由于MPU产生的PWM波本身的过冲太大，而且时钟抖动也比较明显。采用CDCE925为TLC5510来产生时钟。

测试内容：

1.时钟生成。

2.IIC读写。

一、时钟生成：CDCE925默认输出时钟频率与输入时钟的频率相同。故电路完成后，经过基本的联通性测试，加电，产生期望的时钟。第二次加电，无法产生时
钟，原因不明.IIC读写成功。更改S1，S2功能，再次读写器件，失败。检测电源，电压正常，发现电源和地有明显抖动。判定为PCB板布局问题。

    重新画板。再次测试输出时钟正常，IIC读写不正常。SCL和SDA上有很明显的尖刺。继续测试电源和地，还是有噪声。怀疑是滤波电容的问题，原始滤波电
容为4.7uF,10nF,1nF,1uF的组合，芯片附近还有两组10nF和1nF的组合，将电源处的滤波电容更换成0.1uF和0.01uF问题仍然存在。后来同学告诉我4.7uF的电容不能去掉。怀疑原因为SCL从晶振的两脚之间经过，晶振对SCL产生干扰。同使从网上的资料得知在IIC总线的 SCL和SDA上串连一个100-200ohm的电阻也可以有效的抑制干扰，同时在SDA上电一个电容（官方给的是220pF）也可以防止尖刺的产生。

    重新做板，未测试时钟输出，直接进行IIC测试，SCL和SDA仍有尖刺，求助TI工程师，根据TI工程师提供的建议，将IIC总线上的上拉电阻改为 4.7K，SDA上的尖刺仍然存在，想到网上的文章和TI用户手册SDA上加电容，我们加的是200pF,官方为220pF，并一个18pF的电容（我们没有220pF），尖刺仍然存在，不过好像有减小的迹象。并100pF，总过300pF，尖刺消失。用逻辑分析仪观测读写时序，完全正确，但器件未产生 ACK信号，对比时序图和DATASHEET，IIC的时序完全符合要求。我们还是试着将IIC的时钟由78KHz降到23KHz，还是没有ACK信号。怀疑是器件在多次拆装的过程中损坏，更改CDCE925后IIC读写及时钟输出频率正常。

    IIC更改内部配置时钟频率按预期改变。但时钟输出达不到我们想要的3.3V的要求，仅有1.47Vpp测试CDCE925的输出引脚输出Vpp为 2.5V，但经过输出通道后仅有1.47V，判定为输出通道的问题，更换电容问题仍然存在，确定为电阻问题，官方的电路图为100的电阻（不知道是 100ohm还是100---10ohm）我们用的是100ohm更换成10ohm，3.3V电源芯片发烫，输出电平好像更小，更换成1K输出 Vpp2.2V，换成10K输出Vpp为2.5V达到要求。

二、IIC编程：

    最先尝试每写入一位数据就对925进行一次写出操作，觉得这样写入效率比较低。改成写完全部地址之后再进行写操作，经测试发现这样写入的数据也是正确的。

    在地址18H和19H［7：4］以及28H和29H[7:4]中的N就是公式fout=(fin/Pdiv)*(N/M)中的N而不是DATASHEET后面给出的N''。