ST的官方文档（英文），介绍了使用过采样提高ADC采样的方法。
http://www.st.com/stonline/products/literature/an/14183.pdf
- 关于过采样提高ADC的精度，我曾经翻译过ATMEL的应用笔记AVR121，比较详细的介绍了过采样的原理和实现方法，比ST的文档更加详细一些，大家可以对比参考一下。
- 上一篇： 飞思卡尔宣布入围首届绿色FTF设计应用大奖赛的决赛选手
- 下一篇： 忆阻器的黄金时代即将到来
EE直播间
更多
-
无线前沿新技术与测试技术峰会-线上直播 直播时间： 12月05日 09:30 -
首场直播发布： Keysight AP5000 系列新型高性价比模拟信号源 直播时间： 12月06日 10:00 -
全面掌握功率表应用及校准 直播时间： 12月10日 10:00 -
提升毫米波信号测试精度 直播时间： 12月18日 14:00
关闭
站长推荐
/2 
/2
文章评论（0条评论）
登录后参与讨论