原创 片式电容器长期可靠性的实现

　　多层陶瓷片式电容器设计简单，通常只包括介质与电极层的交替层以及引出端。与集成电路那样的有源器件相比，片式电容器实在简单。但是，它们的简单设计并不能保证其免受可靠性问题的影响，也不能降低失效的可能性。

　　单片电容器的失效会造成各种后果，要视其在给定系统中所起的的作用而定。电动机不会起动，指示灯会变暗，制导系统的精度下降等。片式电容器相对便宜，但是单片电容器失效造成的损害是巨大的。

　　片式电容器的基本功能是贮存电荷。介质可包括纸、云母或空气，不过也用钛酸盐和铌酸盐陶瓷，因为它们可配制用来产生各种介电常数。当电极表面面积增大和介质厚度减小时，电容就加大。

　　如果介质的配制不符合规范，多层陶瓷片式电容器就容易失效。在工作温度下，有制造缺陷的介质就变成导体，结果是产生漏电流。

　　电测试的重点是鉴别以这种方式失效的电容器。老练通常是在<?XML:NAMESPACE PREFIX = ST1 />85℃或125℃温度下进行168小时。试验期间所施加的电压一般为电容器额定电压的2倍。

　　相关型号资料：TI16L825C　EPM7128SQC100-10/N　LM2619MTCNOPB　22941201