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用户1439292
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原创 LC液晶热点侦测

2009-11-25 14:30 2522 8 8 分类: 测试测量

利用液晶感测到IC漏电处分子排列重组,在显微镜下呈现出不同于其它区域的斑状影像, 找寻在实际分析中困扰设计人员的漏电区域（超过10mA之故障点）。LC可侦测因ESD,EOS应力破坏导致芯片失效的具体位置。


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