 

用户1439292

文章：18 阅读：48309 评论：1 赞：141

 好友  私信个人主页

文章 18
原创 0
阅读 48309
评论 1
赞 141

原创 OBIRCH 原理

 2009-11-25 14:31  8294 10 11 分类: 测试测量

OBIRCH 原理： 用激光束在器件表面扫描，激光束的部分能量转化为热量。如果互连线中存在缺陷或者空洞，这些区域附近的热量传导不同于其他的完整区域，将引起局部温度变化，从而引起电阻值改变ΔR，如果对互连线施加恒定电压，则表现为电流变化ΔI= (ΔR/V)I2, 通过此关系，将热引起的电阻变化和电流变化联系起来。将电流变化的大小与所成像的像素亮度对应，像素的位置和电流发生变化时激光扫描到的位置相对应。这样就可以产生OBIRCH像来定位缺陷.

.
OBIRCH 应用：

OBIRCH常用于芯片内部高阻抗及低阻抗分析，线路漏电路径分析.利用OBIRCH方法，可以有效地对电路中缺陷定位，如线条中的空洞、通孔下的空洞。通孔底部高阻区等；也能有效的检测短路或漏电,是发光显微技术的有力补充。

写原创有奖励！2024面包板原创奖励正在进行中

上一篇： LC液晶热点侦测
下一篇： EMMI微光显微镜

PARTNER CONTENT

换一换> 更多>

概伦电子：以开放心态共绘EDA产业新蓝图

概伦电子 2024-12-30

SK海力士将在CES2025亮相‘全方位面向AI的存储器供应商’的新蓝图

SK海力士 2025-01-03

含硅还是不含硅？

Shelby Shevik 2025-01-21

文章评论（1条评论）

登录后参与讨论

用户377235 2015-3-9 08:31

学习了，谢谢！

查看更多评论

相关推荐阅读

用户1439292 2009-11-25 15:21: 芯片失效分析; 类别项目名称注释单位芯片开封普通封装.颗特殊封装BGA/COB/陶瓷封装/模块/倒焊/其他颗 SEM及EDXSEM 扫描电镜应用 SEM: Scanning Electron Micr...

用户1439292 2009-11-25 15:20: ESD静电放电模式; 静电放电模式目前工业界大致定义了以下三种常见静电放电模式： HBM人体模式：人体模式是ESD模型中建立最早和最主要的模型之一, 在IC制造和使用过程中, 人体和IC接触的机会最多, 由人...

用户1439292 2009-11-25 15:18: Latch-up 闩锁效应; * Latch-up 闩锁效应, 又称寄生PNPN效应或可控硅整流器 ( SCR, Silicon Controlled Rectifier ) 效应. 在整体硅的CMOS 管下, 不同极性搀杂的区域...

用户1439292 2009-11-25 14:36: FEI DualBeam 820. FIB/SEM（离子束/电子束）双束机台; 展芯芯片分析实验室 FIB性能参数型号：FEI DualBeam 820. FIB/SEM（离子束/电子束）双束机台大陆地区第一台投入商业服务的Dual-Beam双束机台最精准分辨率高达7n...

用户1439292 2009-11-25 14:34: SEM 扫描电镜/EDX能量弥散X光仪应用; SEM 扫描电镜 / EDX能量弥散X光仪应用* 材料结构分析/缺陷观察* 元素组成常规微区分析 * 精确测量元器件尺寸...

用户1439292 2009-11-25 14:32: EMMI微光显微镜; * EMMI微光显微镜是一种效率极高的失效分错析工具, 提供高灵敏度非破坏性的故障定位方式，可侦测和定位非常微弱的发光（可见光及近红外光）, 由此捕捉各种元件缺陷或异常所产生的漏电流可见光。* EMM...

我要评论

 1

关闭站长推荐

上一条

/3

下一条