图5 按键控制流程
这里设计的校准方法很简单,测量状态下长按S1 两秒进入校准模式,若此时接入的标准电容标定容量是0.1uF,但表的显示值是0.0995uf,则可按S1键,使显示的值增加,直到显示的值接近0.1uF,最后长按S1退出校准模式。
本电路的系统框图如图6所示。
图6 系统框图
本电路的方案不是最优的,电路是基于目前手头上的资源而设计的。因为我是真正的无产阶级,买不起芯片啊,⊙﹏⊙b汗,芯片基本上都是申请来的样片,感谢MAXIM,感谢TI,感谢LinerTechnology哈。在这里我只是提供一种思路而已。本方案有部分电路是为测量电感或其它电路准备的。
测量数据:
由于手头上既没有标定好的电容,也没有精度较高的电容表,所以,我只能用别的方法来验证其精度了。我手头上只有个可测电容的万用表,是胜利的VC86E,当采用300pF-1uF量程测量时,300pF-0.1uF,皮法电容表跟VC86E的值比较吻合,一般仅在第4位有差别。而从0.1uF开始,VC86E的测量值将偏大,而皮法电容表的第4位开始跳动,看来从0.1uF开始,皮法电容表只能提供3位有效数字了。下面给出并联电容法测出来的数值表。
表1 0.1uF测量值比较
注:皮法电容表的分布电容约有14.03pF,上面的值均去掉分布电容
结论:由此可见,当测量0.1uF以上的电容时,皮法电容表的测量值比VC86E的更接近真实值。
对于0-300pF量程精度的检验,我也是采用上面的并联电容法,但是,由于分布电容的影响,这种方法可能会使测量出来的结果存在较大的偏差。
表2 0-300pF量程的部分测量值
注:皮法电容表的分布电容约有14.03pF,上面的值均去掉分布电容
结论:由此可见,当测量0-300puF电容时,皮法电容表的测量值还是比较可靠的。
当然,这样的测量方法至多可验证该表的线性度,而不能验证其精度。我也说了,这是在缺少标准电容及电容表的情况下的不得已而为之。在前面验证的300pF到1uF的量程下,本表测量值跟VC86E的测量值基本符合,由此可见本表在该量程下的测量精度还是可以的。至于真正的校准,还是等到自己买到标定好的电容再来测吧。
关于温度的影响
在温度稳定性方面,比较关键的电阻R,因为电压比较器MAX995的参数受温度影响也许会很大,但对整个系统的影响确很小,因为在选型的时候我已经把这个因素考虑进来了。而在电阻方面,我用的全部是金属膜,一般来说,图1中的电阻如果温度特性一致的话,R1-R4的温漂应该能抵消或减小,而比较关键的是充放电电阻R。当R采用一般的金属膜电阻时,主板的温度由30度增加到50度时,测量100PF的电容的显示值变化了约0.6pF,而把R换成标准电阻时,在变化同样的温度来测量同样的电容,显示值仅变化了约0.04pF。可见该电阻的重要性了(测量时被测电容的温度没变化)。
用户1758662 2015-1-26 18:36
dwwzl 2012-8-3 10:56
用户1588142 2011-11-12 00:29