原创 试用手记：为国产FPGA正名(二,51硬核性能测试)

国产FPGA试用手记二（51硬核性能测试）

IO口速度测试，使用以下程序测试高电平脉宽。

    while(1)

    {

        P0 = 0xf;

        P0 = 0x0;

    }

同等条件下与其他MCU比较：

在两次操作之间插入延时函数，分别延时delay(1)、delay(2)、delay(3)、delay(4)。测试延时函数如下：

void delay(uchar cnt)

{

    uchar i =0;

    while(i < cnt)

    {

        i++;

    }

}

由于delay()函数调用一次会有一些额外开销（如赋初值等），所以我们通过不同延时值的实际延时差来看指令运行的速度。换句话说，对前面的程序，可以通过每次delay()函数的差值来计算每多执行一次i++和一次i

特权同学曾使用相同条件测试了51单片机，通常11.0592MHz下工作的51单片机每多执行一次i++和一次i

简单的一些性能测试，发现这个51硬核还是有花头的，至于稳定性和可靠性上还需继续验证和尝试。当然，本文的测试是使用了片内的存储器作为代码和数据存储，实际速度性能和存储器的性能关系非常大，是需要进一步考核的项目。

本系列博文：试用手记：为国产FPGA正名(一)

试用手记：为国产FPGA正名(二,51硬核性能测试)

试用手记：为国产FPGA正名(三，存储器)

试用手记：为国产FPGA正名(四，时序工具)

试用手记：为国产FPGA正名(五，外扩SFR使用)

为国产FPGA正名(六，完结篇)