10.6 参数测绘仪参数扫描分析
参数测绘仪工具是标准PSPICE参数分析(Parametric Sweep)的提升,通过此工具用户可以自行选择出符合优化设计要求的元器件组件。本节还以RC单管放大电路为例,进行交流分析。设计要求使其增益保持在15-15.5dB之间,带宽不小于1.5MHz,为了能完成这些电路性能的更新,可以用参数测绘仪工具进行参数扫描分析。在Capture窗口中,执行PSpice/Advanced Analysis / Parametric Plotter程序命令,启动高级分析中的参数测绘仪工具。
10.6.1调整元器件参数
1. 调整参数扫描设计变量
添加参数扫描设计变量时,可单击 文件所在行,在弹出的Select Sweep Parameter对话框中选择拟要添加的参数扫描设计变量类型和相应要求的参数值。以R6为例,具体操作如图10-38所示。
RC单管放大电路所有参数扫描变量添加如图10-39所示,当确定所选参数设计变量无误,点击OK键,则添加该元器件参数扫描变量到Sweep Parameters表格区,如图10-40 所示。
2. 调整目标参数扫描测量规范
采用左上角标签页 ,在Parametric Plotter工具窗口中Measurements表格区设置要优化的目标参数扫描测量规范,如图10-40所示。
10.6.2运行Parametric Plotter的结果分析
1.查看扫描测量函数Parametric Plotter分析数据
所有参数都设置完毕,按下按钮,运行Parametric Plotter工具,运行结束后将在Parametric Plotter工具窗口中Measurements调整区显示测量扫描参数的最大值和最小值,如图10-41所示。
若想查看参数扫描测量分析的每一次扫描结果和数据分析结果,可以点击左上角的 标签页,每一栏的数据结果与被测量扫描的参数或曲线次数是相等。如图10-42所示。
在图10-42结果显示区中,可以分类并且锁定各种专栏中显示的结果。在RC单管放大电路中,设计参数扫描测量的主要目标是控制增益在15-15.5dB之间的情况下,使被测量带宽目标参数值不少于 1.5 MHz。为了达成设计目标,首先双击结果显示区分类的第六行专栏标题,数值进行重新处理升序排列,然后锁定被处理分类中的有用数值,使其保持不变。在处理完带宽目标参数值之后,接着将结果显示区的第五列数值进行分类处理,这次的分类处理对最后的分类处理结果不会起到扰乱的作用。最终对于所有被测量带宽目标参数值不小于 1.5 MHz的曲线增益参数值都会得到分类处理。显示结果如图10-43所示。用户可以自行选择符合优化设计要求的元器件参数组件,来进行电路性能的改善和提升。
以10-43中选中的元器件参数值组件为例,对于轨迹曲线的测量分析中符合参数扫描设计要求的,可以双击对应栏上每一次分析的黄色图标,在PSpice Probe窗口会显示扫描的参数图形,如图10-44所示。
2. Plot波形信息显示区
对于同样的显示结果还可以通过Plot窗口信息区设立相应的Plot参数波形曲线,在PSpice Probe窗口显示扫描的曲线轨迹信息。点击左上角的 标签页,将进入Plot窗口信息区。
首先,右键点击Plot窗口信息区或者单击文件行信息,在显示的Plot Information-select profile对话框中添加拟增加的参数扫描Plot窗口。具体Plot 信息文件参数设置如图10-45所示。
所有参数设置完毕,右键点击选中标志列,在出现Plot向导中点击Display Plot ,可以显示每一行扫描参数的Plot窗口波形曲线轨迹,分别以第一行(增益函数)和第二行(带宽函数)为例,Plot窗口显示波形分别如图10-46a和10-46b所示。
3. Parametric Plotter扫描参数结果的分析处理
参数扫描分析结束后,可以自行根据设计要求选取元器件组件,在Parametric Plotter工具窗口执行Analysis/Parametric Plotter/ Send to Optimizer子命令,把元器件参数发送给Optimizer工具,进行元器件参数的优化设计分析。
若要查看Parametric Plotter分析原始数据,在Parametric Plotter工具窗口中执行View/Log File/Parametric Plotter程序命令,即可调出Parametric Plotter分析结果清单,如图10-47所示,图中显示排序为第1次和第368次的原始数据清单运行结果。
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