原创 安捷伦测试测量大会再推众多新品测试测量仪器

2011年9月8日，安捷伦科技公司测试测量大会亚洲巡展之旅在深圳成功落下帷幕，本次大会的主题是“绽放电子测量的魅力”。大会所涉及的产品及解决方案 从智能手机，到平板电脑；从移动通信测试大全，到元器件与材料测试的深入解析；从毫米波应用的尖端测试设备，到灵活配置的新型模块化方案；从真实硬件模拟 带宽高达32GHz的高性能实时示波器、DANL(显示平均噪声电平)可逼近到-172dBm理论极限值的高端频谱分析仪，再到基于PNA-X的非线性网 络测试划时代的创新产品；从宽带复杂信号产生与分析，到高速数字总线的测试方案等等，为所有与会者提供了一个饱览安捷伦科技解决方案与最新产品的绝佳机会 (图1)。

图1：安捷伦测试测量大会设立了13个内容丰富的产品演示展台。

另外，在此次大会上，安捷伦还发布了PXI嵌入式控制器，高达100MHz带宽的高速数据流盘解决方案、PXT LTE无线终端测试仪和矢量网络分析仪ENA增强型时域分析软件时域反射计(TDR)的新功能。

为满足不同的测试需求，安捷伦在提供传统仪器的同时推出了各种模块化产品。此次新产品的发布进一步丰富了模块化产品系列(PXI和AXI-e)，并为客户搭建新一代测试平台和解决方案提供了更多的选择。

目前安捷伦模块化产品已涵盖机箱、嵌入式控制器、高速DMM、系列开关、高速数采和数字I/O等模块，以及业界首款超宽带微波矢量分析仪(250MHz分析带宽，或自行搭建1.5GHz带宽的分析系统)，宽带放大器数字预失真(DPD)和高速数据流盘解决方案。

PXT E6621A LTE无线通信测试仪加速LTE终端设计的上市时间

PXT无线通信测试仪是安捷伦LTE终端测试领域的一项重大突破，它提供了灵活的基站/网络仿真和射频参数测试功能。PXT支持过往所有3GPP LTE版本的技术规范，具备用于测量、校准和验证的全套LTE射频测量功能。PXT LTE测试仪支持真实的基站/网络仿真，提供一个可配置的测量环境，可验证网络附着、空闲和连接模式下的操作及功能和性能(例如吞吐量)。PXT具有最大 的灵活性，可配置各种连接和网络参数，进行测量和调试所设计的协议和数据处理能力，包括下行2×2MIMO和切换。通过LTE消息编辑器应用软件，PXT 还可灵活地配置详细的信令控制参数。可选的应用软件支持更详细的协议和应用测试及分析。

PXT无线通信测试仪可根据3GPP 36.521标准对UE接收机(DL)和发射机(UL)测试进行测量，支持UE测试模式下的测量、端到端数据测试或只使用UE测试仪接收/发送数据；使用 内部测试模式或端到端IP数据，可提供高数据吞吐量(高达102.05Mbps，Cat3下行链路)；支持UE报告显示(CQI、PMI、RI、UCI、 功率动态余量和缓冲报告)；具备2×2下行链路MIMO通道，包括每个码字的宽带和子带CQI；支持星座图、EVM测量(图2)，等。

图2：N6051A星座图和EVM测量。

PXT无线通信测试仪的LTE消息编辑器是一款非常灵活的工具，可适用于层三消息(RRC和NAS)的配置。和普通的综合测试仪相比，它能够提供更为灵活而详细的控制参数。

LTE协议记录和分析是调试互操作性问题的基本工具，这些问题经常在前沿的无线技术(例如LTE)中出现。如果没有好的调试和定位问题工具，即使非常简单 的测试，例如UE连接，也可能变得让人十分头疼。针对以上问题，PXT无线通信测试仪提供了从L1到NAS所有层的实时记录和捕获后分析，通过协议层分类 数据对消息进行过滤，查看比特级的详细解码以及应用程序编程接口(API)。

另外，灵活的PXT仪器能够适用于各种配置。通过对可选的PXT仪器硬件和固件进行搭配，可使仪器具有更大的灵活性及最大程度地降低的成本。

基于矢量网络分析仪E5071C的TDR节省测试成本

基于网络分析仪ENA的TDR选件是安捷伦在元器件测量领域又一重大突破。秉承VNA体系结构的全部技术优势，安捷伦E5071C选件TDR能够以最高的 精度快速完成实时TDR测量。它具有高达3000V(典型值)的ESD容限电压和丝毫无损的射频测量性能，因此可以确保产品更加可靠及降低维护费用。新推 出的“先进波形分析”功能可在线缆和连接器测试过程中(例如HDMI线缆一致性测试)提供真实环境模拟，在测量眼图时提供抖动注入；同时，通过在被测件信 号输入端进行幅度加强和输出端进行信号均衡来增强眼图的开合度。“HOT TDR”功能在进行T/R测试过程中(例如在SATA认证测试中测试Tx/Rx器件的回波损耗时)可自动屏蔽不合适的信号测量点，以阻止信号多次反射引起 的眼图闭合，即发射信号多次反射导致的测量误差。更重要的是，这两个新的功能是ENA TDR选件上完全免费的升级，极大地降低了利用传统示波器进行同样TDR测试的成本。

传统上，基于采样示波器的TDR一直用于电缆和印刷电路板的测试。由于这种示波器的噪声相对较大，同时实现高动态范围和快速测量具有一定难度，虽然通过取 平均法可以降低噪声，但是这会影响测量速度。示波器上用于测量时序偏差的多个信号源之间的抖动，也会导致测量误差。此外，给TDR示波器设计静电放电 (ESD)保护电路非常困难，因此TDR示波器容易被ESD损坏。这些问题仅凭TDR示波器基本很难解决，而采用E5071C-TDR基于矢量网络分析仪 (VNA)的TDR解决方案成功地解决了这些问题。

VNA是测量被测件(DUT)频率响应的仪器，测量的时候给被测器件输入一个正弦波激励信号，然后通过计算输入信号与传输信号或反射信号之间的矢量幅度比 (图3)得到测量结果；在测量的频率范围内对输入的信号进行扫描就可以获得被测器件的频率响应特性(图4)；在测量接收机中使用带通滤波器可以把噪声和不 需要的信号从测量结果中去掉，提高测量精度。

图3：输入信号、反射信号和传输信号示意图。

图4：在测量频率范围内扫描正弦波激励信号，就可用VNA测得被测器件的频率响应特性。

为了测试在多个传输通道之间的信号的时序偏差，需要在各个通道的测量结果之间进行时间同步。VNA和TDR示波器对测量结果进行同步的方法并不相同。图5 对比了VNA和TDR示波器测量多端口器件时使用的激励信号。TDR示波器为每个端口提供激励源，并独立生成阶跃激励。因此，必须要激励信号同步起来才可 以测量不同通道间信号的时序偏差。如果激励信号在某个时间点实现同步，该激励的任意时间波动将导致测量结果中出现抖动。

图5：测量多端口器件时，TDR示波器(左)和VNA(右)的激励设置方块图。

使用VNA可以在频域中进行测量并通过傅立叶逆变换计算出时域响应。频域中的相位时延对应的就是时域中的时间时延。VNA提供多种校准方法来补偿相位时 延。此外，由于VNA测量的是输入信号与输出信号的矢量比，因此VNA测量结果不受激励波动的影响(输入信号的任何波动都将被比率的计算抵消掉)。因 此，VNA测得的时域响应不包含因激励信号波动产生的误差，测量结果与使用无波动的完美激励所获得的结果相同。

由于内部结构的原因，TDR示波器很难在内部增加静电放电(ESD)保护电路，因此容易受静电放电影响而损坏。在VNA中很容易使用ESD保护电路。正弦 波激励信号在测量时会扫过VNA的整个测量频率范围，测量结果从输入与输出信号的矢量比中得到。因此，即使保护电路会导致部分损耗，使用矢量比也可消除这 些损耗，从而确保测量精度不受影响。

综上，E5071C TDR的大动态范围、更出色的信号源稳定性和更高的测量稳定性等优良性能，为TDR测量带来了许多优势。

除此之外，此次大会的现场产品展示环节(Live Demo Fair)更为与会者提供了与研发支持专家更直接、更近距离交流的机会，并亲自体验了先进解决方案带来的快捷与便利。