现代数字示波器可以在测量和分析方面大显身手。但要得心应手地使用这些先进功能,你需要先做好准备工作。< /font>
要点
工程师们需要有源差分探头,尤其在处理高速串行总线时。示波器厂家在如何更好地设计这种探头方面有分歧。虽然探测宽带电路总会影响被测信号,但经良好设计的探头会将负载效应降至最低。
为了响应用户希望看到更多波形细节的需求,有些新的示波器屏幕对角线尺寸达到 12.1 英寸。
在测量最高的带宽时,新型 NRO(近乎实时示波器)可以减少顺序采样仪器的缺点,提供快速的波形采集和深度存储。
徒劳的使命
要成为一个示波器专家,为你的应用选择最好的设备,并尽可能发挥仪器的优势,付出努力是必不可少的。有些人甚至称要找到最好的示波器或最有效的使用方法是徒劳的。首先,在选择和使用示波器时,每个工程师都有自己对“最好”和“ 最先进”的定义。其次,工程师用来选择示波器的数据单和售前文档都越来越多,有些会超过 30 页,还带有脚注和小字说明。第三,现在很多中档示波器和几乎所有高档示波器都是 建立在PC 基础上的,通常意味着要以 Windows 标准版本为基础。在这些仪器中,Windows 应用软件决定了你使用示波器众多功能的方法。
示波器的应用程序复杂性至少可与常见的办公软件应用程序相提并论,如微软的 Word 和 Excel(www.microsoft.com)。大多数办公软件用户只用到软件功能的一小部分。示波器用户也是这样。此外,很多示波器用户有一个共同问题,即他们并不是每天都使用仪器。所以,当他们准备开始使用时,希望快速得到关于仪器或被测设备问题的答案。换句话说,示波器功能的使用方法应是直观的,尽量遵从用户熟悉的习惯用法。
示波器制造商指出,在选择和有效利用正确仪器方面,最有价值的助手是卖给你或正试图卖给你示波器的现场工程师,至少对高档仪器是这样。他可以在你购买前,协助你一步步地与竞争设备作对比,提供建议和部件,帮助你有效地使用它。示波器分销商的代理也可以提供类似的服务。另外,不要以为你从分销商买了仪器就得不到厂家的支持。根据不同制造商和购买的示波器型号,厂商都可能会提供支持。记住,大多数示波器供应商的网站都提供很多有价值的应用说明,包含有效使用公司产品的信息。表 1和表 2 汇集了四家主要制造商实时采样示波器的主要规格。
从探头开始
讨论现代示波器的一个合适起点是探头。探头是仪器与被测设备接触的地方。过去,工程师们曾认为数兆赫兹就算是高频了。现在,探测千兆赫兹(GHz)的信号已经是很普通的事,一些熟悉的串行总线用3Gbps以上的速率传输信号。示波器厂家建议你的示波器和探头都应该有至少1.8倍于位速率的 -3 dB 带宽。所以,如果你要在一个原始位速率为 3.125 Gbps 的总线上工作,你的示波器和探头应至少具有 5.625 GHz 的组合带宽。(一个原始位速率为 3.125 Gbps 的总线通常以 2.5 Gbps 承载信息;数据流中嵌入的 8 b/10 b时钟将信息速率限制在原始位速率的 80%。)示波器制造商
探头智能化
主要示波器制造商的现代探头系统都有在示波器与探头间双向通信的功能。现代有源探头的功能不仅是将探头针上的波形经放大或缓冲后送给示波器,示波器也不仅完成向探头提供电源的功能。例如,LeCroy 的最新型探头(见图1)可以存储动态探头校准数据。这个数据中不仅包括探头的偏移电压和直流增益,还有高频增益和高频相位(延迟)等特性数据。 LeCroy的产品管理总监Mike Lauterbach 博士认为,所有制造商的超宽带示波器都使用了DSP技术,以修正垂直放大器的高频增益和高频相位特性。这种修正改善了响应,使之比未经修正的放大器响应更接近于需要的响应(一般是一个四阶Bessel低通滤波器)。
但就Lauterbach所知,只有LeCroy的WaveLink探头系列现在具有算法修正的探头响应。当你在几秒内将一支WaveLink探头连接到一台兼容的LeCroy示波器上时,修正功能会上载探头的校准数据,为探头的交流特性对示波器通道的垂直响应(出厂时测定,或者用LeCroy提供的夹具对探头作的最后一次特性描述)做出补偿。LeCroy使用了有校准功能的探头,它的11GHz示波器可提供更窄的 -3dB带宽,优于Agilent或Tektronix 的近似型号,在所有10GHz以上的实时示波器中,它具有最精确的高频交流响应和瞬态响应。LeCroy还指出了它与至少一个竞争对手的区别,那就是目前它不是用DSP扩展示波器的带宽。
也许你没有注意过,现代宽带示波器都没有对应于10% ~ 90% 上升时间的频率响应,原有的公式是 TR="0".35/BW,其中TR=10% ~ 90% 上升时间,BW=-3dB带宽。而从下式无法确定示波器与探头的组合上升时间:
首先,你必须仔细查看数据表的说明,以确定每个上升时间规格是否适用于信号输入步长幅度从 10% ~ 90%(或 20% ~ 80%)的时间。有时制造商会列出两个上升时间。有些总线物理层标准只用了 20% ~ 80% 的值,此时用 10% ~ 90% 的值只会造成混乱。除了“哪个上升时间”问题以外,老公式也不适用于新示波器和探头,因为新设备的高频滚降特性与模拟示波器不同,而这是旧规则成立的基础。如要了解更多有关深存储器的内容,以及在长长的波形记录中寻找异常的方法,请见附文2“采样存储:深奥的主题 ”。
余辉模式
余辉保留模式并不完全像很多人想象的那样工作(图2)。为避免混淆,下面作一个简单的说明,并且适用于所有品牌的示波器。注意余辉模式通常能够实时捕捉到高于示波器频率的正确波形(因为有限的实时采样率)。很多示波器用户错误地认为,捕捉这类波形需要用随机等效时间采样,但使用这种模式要小心,以避免难以觉察的错误(参考文献 1)。
在使用余辉模式时,针对希望捕捉的波形,触发器在时间上就波形而言必须是稳定的。你可以采用触发波形特性或用其它触发源。每一次触发时,示波器都会获取波形采样,并将与触发时间相关的点显示在屏幕上。不过它并不在各点之间划线。默认情况下,有些示波器会增加正弦 x/x 插入点,也有一些示波器什么也不加。示波器只是将点放在屏幕上,或更准确地说,是把点放在显示处理
慢速刷新
示波器制造商对他们仪器屏幕的快速刷新速率以及控制设置中的修改很感兴趣。有些公司把这些属性看成是“模拟示波器的感觉”。这些要求对示波器的使用方法也同样重要,但是,如果仔细考虑一下这些要求,很容易会想到它们也许并没有这么夸张。几乎所有数字示波器的屏幕刷新速率都只有每秒30次或60次,但很多时候每秒要显示数千个波形。它们的实现方法是在刷新间隔中将多次的变化在屏幕映像上综
尽管工程师们很欢迎大屏幕和小外形体积,但那些要将示波器集成为更大系统(如用于生产测试)的工程师却对新外壳尺寸不太感冒。对他们来说,最关键的是要选择占用最小机架空间的系统部件。新的外壳高度大于多数传统示波器。看来解决高度问题的方法要依靠 LXI(仪器的LAN扩展)了,这是系统部件仪器的一个新标准。你可以将矮型的 LXI 示波器想象成屏幕平放在仪器顶上,使用时要将屏幕沿滑轨拉向前方,再向下转至垂直位置。
超越 20 GHz
如果要对数字示波器技术的现状作一个调查,不讨论最高带宽示波器就不算完整,工程师们习惯把这类仪器叫做顺序采样示波器。在一年前 LeCroy 的 WaveExpert(图4)和 SDA100G 系列面世前,“顺序采样”这个词一直是恰当的,那时只有两家供应商,Agilent 和 Tektronix。
LeCroy 的仪器实际上改写了工程师们设计超宽带仪器的历史(不同厂家的超宽带可从 70 GHz ~ 100 GHz)。在产品推出时,LeCroy 只是简单地把自己的仪器叫做采样示波器,因为“顺序”这个词并不适用。但没有“采样”字样是因为所有数字示波器都是采样示波器。今年,LeCroy 用一个新词“NRO”(近乎实时示波器)解决了术语问题,并在自己的产品中增加了一个 NRO 系列。
这个类型中的所有示波器(包括 LeCroy 的产品)都依赖于信号的重复出现。它不需要
带宽达 100 GHz
采样技术的发展催生了 LeCroy 产品,它用适宜的采样插件,实现业界领先的 100 GHz 带宽,ADC 与内存技术的发展使得实现一个与顺序采样仪器有相当区别的架构成为可能。LeCroy 的仪器不是对每个输入波形重复只获取一次采样,而是要捕捉多次。公司称采样速率是最快速竞争产品的 50 倍。另外,还可以实现数亿次采样的存储深度,内置的时钟恢复功能能使示波器在很多情况下实现不用外部触发就可运作。这些示波器还可以容纳内置分析功能,它可能是你希望唯有实时采样示波器具有的功能。所以,这些示波器可以承担很多应用,而竞争对手仪器的数据采集速度太慢,无法捕捉到所需长度的记录,它们需要外部设备来完成触发,或者在做少量分析时界面过于复杂。
与Agilent(图5)和Tek一样,LeCroy 也提供了光电转换器,可以允许其超宽带示波器用于光纤通信系统的测量。但与其竞争对手不同,LeCroy 现在并不提供这些示波器的差分输入插件。因此,要同时查看四个超过20GHz的差分信号,你就需要两台 LeCroy 主机,而竞争对手的只需一台就能完成。
参考文献
1. Pupalaikis, Peter J, Random Interleaved Sampling, November 2005, www.lecroy.com/tm/library/registerPDF.asp?wp=577.
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反射
第二个问题无疑会在很多情况下出现,这就是处理来自示波器输入端的反射。实际上,用户测量的就是叠加了反射的信号。示波器输入不是完美的 50Ω 端结。不同的衰减器采用继电器或电子开关进行转换。由于路径不同,因此在不同频率下它们就会产生反射。
示波器供应商致力于减少这些反射,但它们实现的性能基本相同:在通带上传输的 VSWR(电压驻波比)可以从完美的 1:1 直到 1.35:1。当终端将能量反射回线路上时,反射会在与电缆长度相关的某些频率上形成驻波。由于它们是在不同频率上呈现反射,不同型号的示波器对相同的发生器和电缆组合测量出的振幅是不同的。
用户降低这一效应的办法是在示波器的输入端安装一个高质量的 6 dB 衰减器,并在衰减器上连接功率分配器输出。衰减器可以将返回损耗改善 6 dB,从而降低了电缆反射的影响。
如您所见,在各种频率上精确测定示波器振幅精度的方法是非常复杂的。所有示波器制造商都在设计中竭尽全力,对设计师用于仪器校准的复杂系统做出验证。如果只用一个信号发生器和电缆就试图手工完成这种测量工作,是不可能得到期望的结果的。
短暂的异常
能够捕捉到这么庞大的记录是一件好坏参半的事。通常情况下,长记录中有价值的部分并不多,例如被测设备会表现异常。这些波形才是你希望看到的。但如果记录有数千万或数亿点的深度,而只有少数异常波形,用目测方法丢失重要内容的概率几乎是 100%。也许有一天(幸运的话会很快),你的示波器也许有能力对你应看或能够可靠省略的部分作一个粗略的筛选。但今天,你得告诉示波器要找什么,而不是要省略什么。然而,如果你考虑一下这个问题,告诉示波器省略什么(或让仪器自己决定省略什么)似乎对用户更有利。
某种程度上,现代示波器的遮蔽测试功能可以有助你的研究。有这种功能的示波器可以让你定义一个通过/不通过的遮蔽。捕捉的是对测量有用的波形。接下来可以显示出波形,并设定限制:波形快速上升和下降部分的时间变化范围,以及水平(或接近水平)部分的电压变化范围,实际上是建立了正常波形的一个增厚版。示波器甚至可以用指定遮蔽频带默认宽带值的办法,进一步简化这个工作。当示波器运行在遮蔽测试模式时,可以从多种取舍动作中选择,让仪器用该动作检测一个落在遮蔽外的波形。例如,示波器可以停止捕捉额外的波形,它可以响起一个警报,或者可以给你发一个E- mail 信息。
Agilent 和 LeCroy 把示波器使用时进行的遮蔽测试称为分段内存模式,而 Tek 叫做 FastFrame 模式,它们可能更有用。这些模式可以将一个大的采集存储器分成较小的几部分,使示波器能够快速捕捉多个满足触发器条件的波形实例。例如,如果示波器的采样存储器可保存 220 (1M)个采样,可以将其分成 64 段 214 (16k)个采样。这种模式下,有些示波器每秒可以捕捉到最大数量的波形。如果你可以设置示波器让它捕捉一个波形,用遮蔽进行测试,并且如果它在遮蔽内(即它符合你为一个正常波形建立的条件),则下一个采集的波形会覆盖刚采集到的正常波形,这种方法可能很有用。此时,当示波器存储区被充满时,或当你手动停止测试时,你可以有一个异常波形库,每个波形都标记着它在采集序列中的位置。
当你确定了示波器要花多长时间将一个波形用于遮蔽测
减少毛刺
8 b 系统(如示波器)的设计师已经知道如何控制这些问题,但在更高分辨率的系统中,降低乒乓毛刺还需要更复杂的测量。例如,你可以使用公共基准电压、匹配的物理布局以及等长度走线等,实现经典的模拟匹配技术。但在 12 b 以上分辨率时,很多这类技术需要附加电路,它们自身就是误差的来源(参考文献 A)。
降低乒乓效应的另一种技术是数字后处理,它可以在主 PC 的软件中或数字化器内部一片功能强大的 FPGA 中完成。在任何情况下,降低(如果不能完全消除)乒乓造成的图像毛刺和偏移毛刺是非常重要的。否则,就无法实现乒乓采样的目的,只能实现更高的采样速度,而不是更高的分辨率。有一个对示波器和数字化器用户的警告,那就是要特别注意动态规格中的采样速度,它们一般在数据表脚注的小字里可以找到。
另一个以更高采样速度实现高分辨率的创新技术是多位ADC 线性化。单个位ADC 可为低频应用提供高分辨率和大动态范围。但是,由于有限的采样速度,单个位ADC 不适用于高于数百千赫兹的动态信号应用。多位ADC 可以在高频率下提供大动态范围,但要对 ADC 作线性化,以去除固有的非线性成份。
图Ba描述了ADC中的非线性成份如何在频率域中显示为谐波。 National Instruments的Flex II ADC(参考文献 B)用一片功能强大的 FPGA 和获专利的线性化技术,将这些非线性成份去除,从而在较高采样速率下提供惊人的动态范围(图 Bb)。
增加的动态范围使工程师们能够分析出那些传统仪器的噪声本底会丢失的信号。
参考文献
A. Looney, Mark, Advanced Digital Post-Processing Techniques Enhance Performance in Time-Interleaved ADC Systems, Analog Dialogue, August 2003.
B. Wagle, Kaustubh and N Knudsen, Flex II ADC Technology White Paper, National Instruments 2005.
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