测试原理:LOOPEN和PRBSEN 高电平。
测试方法:
1.LOOPEN=1,内部环反馈路径使能。发送的串行数据直接从内部到达接收器的输入进行内部自检测。此期间发送串口输出高阻态。
2.PRBSEN=1,伪随机比特流测试能够在RX_ER/PRBS_PASS处检测 到。PRBS_PASS变高表明有效的PRBS收到。
测试结果:PRBS_PASS变高表明有效的PRBS收到。
测试原理: PRBSEN 高电平。
测试方法:
PRBSEN=1,伪随机比特流测试能够在RX_ER/PRBS_PASS处检测 到。PRBS_PASS变高表明有效的PRBS收到。
测试结果:PRBS_PASS变高表明有效的PRBS收到。
测试原理: LCKREFN(lock to reference)低电平
测试方法: LCKREFN=0,接收器的时钟锁定为GTX_CLK。接收器不再接收数据,器件处于仅传送模式。
LCKREFN=1,接收器接收外部数据流,必须在发送器使能之前从同步状态机接收有效码。
测试结果:收到正常的数据。
测试原理: RX_DV低电平
测试方法: RX_DV/LOS 接收数据有效。表明接收和解码的数据已经被输出到接收数据总线上。RX_DV/LOS从第一个接收word到最后一个word一直有效。然后在最后一个word后的第一个RX_CLK上跳沿失效;
如果在正常的操作中,在串行接收管脚的差分信号低于200mv,RX_DV/LOS跟随RX_ER被置为高电平,表明一个信号的丢失。
如果器件处于power-down mode,RX_DV/LOS是信号检测电路的输出,并且当信号丢失检测到时被置低。
测试结果:RX_DV时序符合如上所述。
用户1261511 2010-2-7 17:42