原创 测试和测量的科学和艺术的盛宴

2011-3-29 17:10 2010 4 4 分类: 测试测量

        "给力2011,力科在您身边",2011年力科示波器调试与分析技术巡回研讨会暨新产品展示会已于3月21日在上海拉开的帷幕并于3月23日于苏州举办了第二场。接下来的两个月里还将持续在全国各地19个城市展开。  有不少不能来现场与会的朋友请我发送讲稿,但这讲稿的文件太大了,总共有360页,我想等所有场次结束后根据反馈进行修订之后再统一通过网盘发布。在此我将部分提纲发布给大家。


         调试工具集锦部分包括:1,Persistence 模拟余辉, 2, WaveStream 快速查看模式,3,Sequence Mode 顺序模式,4,Trigger  触发,5, Serial Data /ProtocolTrigger 串行数据/协议触发,6,TriggerScan  智能触发扫描,7,WaveScan 高级扫描和搜索,8, Measurement Trigger  测量触发,9,Auto Save 自动保存,10,RollMode 滚动模式,11, History  历史模式,12,AIM 测量统计,13, RQM  范围内参数测量,14,Pass/Fail通过/失败测试,15,Eye Failures Location  模板错误定位。 分析工具集锦部分包括:1,AIM  测量统计,2, RQM  范围内参数测量,3,Histograms 直方图,4, Jitter Track 抖动追踪,5, Trend  趋势图,6, FFT和频谱分析仪选件,7, WaveScan  高级扫描和搜索,8, ProtoBusMag  中低速串行数据总线分析,9, ProtoSync  高速串行数据解码协议同步分析,10,Eye diagram  眼图,11,Advanced Jitter 高级抖动分析,12,Eye Doctor 高级信号完整性分析工具,13,QualiPHY  一致性测试平台工具,14,Custom DSO 自定义示波器,15,DFP2数字滤波器


        我们在三个半小时的时间里通过演示和讲解使大家对这些调试和分析工具进行一个全景式的了解,从而在将来的实际电路调试中遇到问题时能想到可能用我们的某个工具或者某些工具的组合来定位问题和解决问题。 因此,我相信半天的时间投入来参加这样的精彩纷呈的研讨会一定是有益的。 欢迎大家继续报名。 后面的场次安排如下:3月31日星期四,洛阳/4月7日星期四,绵阳/4月12日星期二,成都/4月1日星期二,济南/4月14日 星期四,北京/4月15日星期五,武汉/4月19日星期二,惠州/4月20日星期三,广州/4月21日 星期四,长沙/4月26日星期二,重庆/4月28日星期四,西安/5月6日 星期五,深圳 /
5月10日星期二,天津/5月12日星期四,大连/5月16日星期一,杭州/5月18日星期三,无锡/5月19日星期四,合肥/5月24日星期二,兰州。


        如果您还没有意识到示波器是我们每一个工程师的眼睛,那么您一定要参加这样的研讨会!


        在我们这次巡回研讨会上,现场的互动环节中请大家抢答一些关于示波器的基础知识的问题,不过也有一些现场灵感而发的随机性的问题。 这周的附件中我们公布了这些由示波器基本名词组成的示波器基础知识大普及,敬请大家恩惠存并大量转发给那些需要快速了解示波器最核心的基本知识的朋友们。 如果您对这里面的知识点有特别感兴趣的,欢迎给我来信,我将发送给您更多相关资料。在我们研讨会中赠送给大家的纪念品里面有卡片式台历,每个月的日历卡片中都附有这些基本名词介绍。


       上周三我给大家发送了另外一份关于USB3.0专题研讨会的邀请函。上海,深圳等地的朋友们纷纷问我什么时候会有上海,深圳专场。 USB3.0之热由此可见一斑。  这次USB3.0专题研讨会是作为Intel信息技术峰会IDF的USB3.0社区的一部分,是由力科公司发起主办,携手目前USB3.0行业的技术领袖们一起和大家分享USB3.0设计和测试中一些比较前沿的知识和信息。因此很难同时将这些来自国外的专家邀请到上海,深圳等地,我们近期没有明确的计划举办这种领袖云集的USB3.0专题研讨会。 如果您有意去北京参加IDF和我们的USB3.0专题研讨会,欢迎继续踊跃报名。 名额十分有限!


      春天是播种的季节,快去参加力科的关于测试和测量的科学和艺术的盛宴吧!

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