原创 固定电容器性能检测

2020-1-29 18:21 764 15 15 分类: FPGA/CPLD

固定电容常见的故障有击穿,漏电和失效等,可以用万用表电阻档检测电容的性能,这种检测方法主要是利用电容的放电原理来进行的,具体的检测方法如下:

    1.检测时用万用表指针摆动一下很快回到,说明电容性能是正常的。

    2.万用表指针摆动一下以后不能回到处,而是指在某一阻值上,说明电容漏电,这个阻值就是电容漏电电阻,正常的小容量电容漏电电阻约几十到几百兆欧,弱电容漏电电阻小雨几兆欧,就不能使用了。

    3.万用表指针不懂,一直停留在处,说明电容内部开路,但容量<5000pF的小容量电容则是由于充放电不明显所致,固不能视为内部开路。

    4.万用表指针摆动到0处,说明电容已经击穿短路,不能使用。

5.万用表指针摆动到刻度线中间某一位置后停止,交换表笔再测时针仍在这一位值,如厕时一直电阻,说明该电容已经失效。

    a)正常;(b)击穿;(c)失效

    检测注意事项:

    1.小于10pF的固定电容器容量太小,用指针式万用表只能检测它是否漏电,内部短路或者是击穿的现象

    2.10pF-0.01uF的电容用指针式万用表只能检测是否漏电,内部短路现象,而不能检测出是否有冲放电现象。

    3.大于0.01uF一行的电容器,用万用表测量时,必须根据电容器的电容量的大小来选择合适的量程进行测量,才能给出正确的判断。测量300uF以上容量的电容器,可以选用R*100欧姆或者是R*1欧姆档;测量10-300uF电容器,可以选用R*100Ω档;测量0.47-10uF电容器时,可以选用R*1KΩ;测量0.01-0.47uF电容器,可选用R*10KΩ

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