原创 [转]DFT之wrpper

2011-3-15 14:11 7983 7 8 分类: 消费电子

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DFT之wrpper
文件:http://filer.blogbus.com/4218525/resource_42185251267681595k.zip
dft中之所以用到wrapper是因为存在一些黑盒子,或者ip,这些黑盒子或者ip的输入输出是不可观测和控制的。
所以就需要wrapper。这样ip,黑盒子的输入和输出就可观测和控制。
原理:

例子(fifo使用到ram):
1.不加wrapper
运行结束后看当前层次的flip-flop:

再看下当前模块的扫描链,没有额外寄存器,ram输入输出直接链接到另一个模块

2.加了wrpper之后.
运行结束看当前层次的flip-flop:增加了一些器件。

在看下当前模块扫描链,有一些额外寄存器:

由于本模块设计的时候输入都寄存了。所以observe point没有插入
ram的输入直接和另一个模块的输出相连。
但是插入了control point。
即输出被wrapper了。

set test_default_period      100
set test_default_delay       0
set test_default_bidir_delay 0
set test_default_strob       40

set_dft_config -scan enable  -bsd disable
set_dft_config -fix_clock         enable
set_dft_config -fix_reset         enable
set_dft_config -fix_bidirectional enable
set_dft_config -fix_bus           disable

set_dft_insertion_config -preserve true -synthesis none

set_scan_config -style multiplexed_flip_flop
set_scan_config -clock_mixing mix_clocks
set_scan_config -internal_clock multi
set_scan_config -add_lockup  true
set_scan_config -chain_count 1

set_dft_signal -view exist -port Tck  -type ScanClock  -timing {45 55}
set_dft_signal -view exist -port Trst -type Reset      -active 0      
set_dft_signal -view spec  -port Test -type ScanEnable -active 1      
set_dft_signal -view spec  -port Tms  -type TestMode   -active 1      

set_dft_signal -view spec  -port Tck  -type TestData
set_dft_signal -view spec  -port Trst -type TestData

set_autofix_config -type reset -control Tms -test_data Trst
set_autofix_config -type clock -control Tms -test_data Tck 

set_autofix_config -type bidirectional -method output -control Tms

set_dft_signal -view spec  -port DataWr -type ScanDataIn 
set_dft_signal -view spec  -port Empty  -type ScanDataOut

set_scan_path sp1 -view exist -complete false -scan_data_in DataWr -scan_data_out Empty

set_testability_config -type observe -clock_signal Tck -control Tms
set_testability_config -type control -clock_signal Tck -control Tms

set_test_point_element [get_object_name [get_pins {u_mcp_fifo/u_ram/ADA* u_mcp_fifo/u_ram/ADB* u_mcp_fifo/u_ram/DBIN*}]] -type observe    -clock Tck
set_test_point_element [get_object_name [get_pins u_mcp_fifo/u_ram/DAOUT*]] -type control_01 -clock Tck

create_test_protocol
dft_drc
insert_dft
dft_drc
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文章评论1条评论)

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hvyikey_149041924 2011-3-18 16:00

博主: 你好!首先谢谢你对信息的共享。 看了你的文章后,对 wrapper 的功能有了概念,可是有几个疑问,希望能得到你的答复。请问加入 wrapper 之后,在当前层次增加的器件是什么类型的器件,加入这些器件的作用是什么?第二个疑问是,加入 wrapper 之后,扫描链实现控制和观察的途径是在黑盒子内部添加寄存器达到目的吗?我的理解是正确的吗?希望能得到你的答复。
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