四、芯片封测技术及应用场景
1、封装技术的发展历程
(1)DIP封装:早期分立元件封装,体积大、引脚少;(2)QFP封装:引脚密度提升,适用于早期集成电路。
(3)BGA封装:高密度互连,散热与信号传输优化;
(4)3D封装:通过TSV(硅通孔)实现垂直堆叠,提升集成度(如HBM内存堆叠);
(5)Chiplet封装:异质集成,将不同工艺节点的模块组合(如AMD的Zen3+架构)。(6)SiP封装:集成多种功能芯片(如iPhone的A系列SoC整合CPU、GPU、射频模块)。
2、芯片测试
(1)测试流程:
晶圆级测试(CP测试):在未切割的晶圆上检测良率,筛选失效芯片。
成品测试(FT测试):封装后进行功能、性能、功耗测试(如CPU的稳定性测试)。
(2)测试方法:
自动测试设备:高速、高精度测试芯片参数(如电压、频率响应);
老化测试:模拟高温、高湿环境验证长期可靠性。JESD系列规范:涵盖温度循环、机械冲击、ESD防护等测试项。
3、应用场景
(3)汽车电子
自动驾驶:AI加速芯片(如英伟达Orin)处理传感器数据;
新能源:IGBT与SiC功率芯片(如英飞凌、STMicro)提升电控效率。(4)医疗健康
植入式设备:微型芯片(如心脏起搏器、血糖监测芯片)实现精准医疗;
医疗影像:高性能FPGA(如Xilinx)加速CT/MRI图像处理。(5)工业与能源
工业控制:PLC控制器中的实时处理器(如西门子S7系列);
光伏逆变器:高可靠性芯片(如TI的C2000系列)优化能源转换效率。(6)人工智能与边缘计算
云端AI:GPU(如NVIDIA A100)与TPU(谷歌)支撑深度学习训练;
边缘设备:低功耗AI芯片(如地平线征程系列)实现本地化实时推理。作者: 碧海长空, 来源:面包板社区
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