原创 fpga DFT设计概述

在芯片设计领域的含义，即可测性设计(Design for Testability)

在集成电路(Integrated Circuit，简称IC)进入超大规模集成电路时代，可测试性设计(Design for Test,简称DFT)是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性(包括可控制性和可观测性)的硬件逻辑，从而使 芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的成本。

三种常见的可测性技术

扫描路径设计(Scan Design)、内建自测试、边界扫描测试

为什么要做DFT呢？

因为我们的设计，也就是RTL到GDSII交出去的只是一个版图，最后芯片需要生产织造 是在foundry做的，也就是厂家根据你提供的数据GDSII做成芯片。这个流程过程中可能出现缺陷，这个缺陷可能是物理存在的，也可能是设计当中的遗 留问题导致的，另外一方面在封装的过程也可能出现缺陷。为了保证我们的芯片能够不存在物理上的缺陷，所以就要做DFT。也就是说，你交给foundry一 个加法器的GDSII，他在做的过程和封装的时候都可能引入缺陷；拿到这个加法器芯片你怎么知道，里面的一个与门，厂家给你做的就是一个正常工作的与门 呢？你怎么知道厂家做好的加法器的dier在封装之后引脚就能正常输入呢？一句话，就是通过DFT！